[发明专利]一种通讯设备的温升测试方法及系统

权利要求书

1.一种通讯设备的温升测试方法，其特征在于，包括：

在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件布置热敏电阻丝，所述各个热敏电阻丝并联；将所述布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备置入老化箱并密封所述老化箱，所述置入老化箱的待测试通讯设备由搁板承载；

对所述老化箱预设加热温度、升温时间以及保温时间，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；

开启所述老化箱的电源，所述待测试通讯设备经升温阶段及保温阶段后，关闭所述老化箱的电源；关闭所述老化箱的电源后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；在所述保温阶段以及自然降温阶段，实时监测通过各个热敏电阻丝的电流，以获取待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；

判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；

对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，判断在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，所对应的内部元件温升测试不合格，否则合格。

2.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述搁板的材质与所述待测试通讯设备的预设承载件的材质相同。

3.根据权利要求2所述的温升测试方法，其特征在于，所述待测试通讯设备为智能音响或路由器，所述搁板的材质为木制；和/或所述待测试通讯设备为空气净化仪或扫地机，所述搁板的材质为瓷砖。

4.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述加热温度的范围为35～50℃，所述升温时间的范围为10～30分钟，所述保温时间的范围为60～120分钟。

5.根据权利要求1所述的温升测试方法，其特征在于，所述老化箱内置有多个相同的待测试通讯设备，多个待测试通讯设备在同一温升测试中测试。

6.一种通讯设备的温升测试系统，特征在于，包括：电流监测电路、老化箱、温度-时间曲线获取模块、剔除模块以及判断模块；其中：

所述电流监测电路包括多个并联的热敏电阻丝，各个热敏电阻丝布置在待测试通讯设备的表面以及内部的待测试元件上，所述电流监测电路用于监测各个热敏电阻丝的电流；

所述老化箱具有隔层以及温控模块，所述隔层用于承载搁板以及所述搁板承载的布置有热敏电阻丝的待测试通讯设备；所述温控模块用于控制加热温度、升温时间以及保温时间，以使所述待测试通讯设备经历升温阶段及保温阶段，所述升温时间为所述老化箱从室温至所述加热温度所需的加热时间，所述保温时间为所述待测试通讯设备从加热温度至稳定状态所需的时间；所述温控模块断电后，所述待测试通讯设备进入自然降温阶段；

在所述保温阶段以及自然降温阶段，所述温度-时间曲线获取模块基于所述电流监测电路实时监测的各个热敏电阻丝的电流，得到各个热敏电阻丝的电阻值，基于各个电阻值及热敏电阻丝的阻值-温度曲线，换算所述各个热敏电阻丝的温度，进而得到待测试通讯设备的表面以及内部元件的温度-时间曲线；

所述剔除模块用于判断各个温度-时间曲线是否符合所对应的待测试通讯设备表面或内部元件的预设升温曲线，剔除出不符合的温度-时间曲线；

对于符合的温度-时间曲线中待测试通讯设备表面的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述待测试通讯设备行业规定的正常工作时表面最高温度，若超过，判断待测试通讯设备表面温升测试不合格，否则判断合格；对于符合的温度-时间曲线中内部元件的温度-时间曲线，所述判断模块用于判断所述曲线在自然降温阶段的温度最高点是否超过所述曲线对应的内部元件正常工作能承受的最高温度，若超过，判断所对应的内部元件温升测试不合格，否则判断合格。