[发明专利]磁盘装置和刷新处理方法有效
申请号: | 201810605621.0 | 申请日: | 2018-06-13 |
公开(公告)号: | CN109979496B | 公开(公告)日: | 2020-12-25 |
发明(设计)人: | 矶川博 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝;东芝电子元件及存储装置株式会社 |
主分类号: | G11B20/18 | 分类号: | G11B20/18 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人: | 刘静;段承恩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 磁盘 装置 刷新 处理 方法 | ||
实施方式提供能够提高数据可靠性的磁盘装置和刷新处理方法。本实施方式的磁盘装置具有:盘;头,其向所述盘写入数据,从所述盘读取数据;以及控制器,其检测当前读取出的第1数据的第1误码率,在所述第1误码率相对于在检测所述第1误码率之前读取出的第1数据的第2误码率的第1变化量为第1阈值以上的情况下,将第1写入次数修正为第2写入次数,所述第1写入次数是向在所述盘的半径方向上与被写入了第2数据的第1磁道相邻的磁道进行了写入的写入次数,在所述第2写入次数为第2阈值以上的情况下,将写入到所述第1磁道的所述第2数据重写。
关联申请
本申请享受以日本专利申请2017-251062号(申请日:2017年12月27日)为基础申请的优先权。本申请通过参照该基础申请而包含基础申请的全部内容。
技术领域
本发明的实施方式涉及磁盘装置和刷新处理方法。
背景技术
在放置在高温环境等容易产生热波动现象状况的情况下,在磁盘装置中,由于热波动现象,盘的数据可能会发生劣化。在磁盘装置读取了劣化的数据的情况下,所读取出的数据的信号质量也可能会劣化。在检测出劣化的数据的情况下,磁盘装置执行对劣化的数据重写的处理(刷新处理)。但是,在突然断电并放置在容易产生热波动现象的环境之后再次起动的情况下,磁盘装置难以检测因热波动现象而劣化的数据。为了检测因这样的因热波动现象而劣化的数据,在磁盘装置中,需要读取盘的全部数据,并评价所读取出的数据。因此,在向盘写入的数据较多的情况下,磁盘装置为了检测因热波动现象而劣化的数据,将会进行需要较多时间的处理。
发明内容
本发明的实施方式提供能够提高数据可靠性的磁盘装置和刷新处理方法。
本实施方式的磁盘装置具有:盘;头,其向所述盘写入数据,从所述盘读取数据;以及控制器,其检测当前读取出的第1数据的第1误码率,在所述第1误码率相对于在检测所述第1误码率之前读取出的第1数据的第2误码率的第1变化量为第1阈值以上的情况下,将第1写入次数修正为第2写入次数,所述第1写入次数是向在所述盘的半径方向上与被写入了第2数据的第1磁道相邻的磁道进行了写入的写入次数,在所述第2写入次数为第2阈值以上的情况下,将写入到所述第1磁道的所述第2数据重写。
附图说明
图1是示出第1实施方式的磁盘装置的结构的框图。
图2是示出通常数据的数据模式的一例的示意图。
图3是示出检测数据的数据模式的一例的示意图。
图4是示出与通常数据和检测数据中的全部数据模式对应的各磁化反转间隔的数据模式的比例的一例的图。
图5是示出低频率模式的劣化率与误码率之间的关系的一例的图。
图6是示出因热波动现象导致的检测数据和通常数据的误码率的变化关系的一例的图。
图7是示出管理写入次数的表的一例的图。
图8是示出通常数据的误码率和写入次数的关系的一例的图。
图9是第1实施方式的刷新处理方法的一例的流程图。
图10是变形例1的刷新处理方法的一例的流程图。
图11是示出变形例2的磁盘装置的结构的框图。
图12是示出变形例3的管理写入次数的表的一例的图。
图13是第2实施方式的刷新处理方法的一例的流程图。
具体实施方式
以下,参照附图,对实施方式进行说明。此外,附图是一例,不限定发明的范围。
(第1实施方式)
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