[发明专利]用于低温辐射性能测试的样品杆装置及测试设备

权利要求书

1.一种用于低温辐射性能测试的样品杆装置，其特征在于，所述样品杆装置包括：

具有中空内腔的真空管；

具有容腔的真空罩体；所述真空罩体包括一端具有开口的罩体，以及结合固定在罩体开口处的且与真空管一端部结合固定的二级传热环件；

悬置在真空罩体容腔内的导热板，该导热板通过连接件与二级传热环件连接固定，且所述连接件与罩体之间不相接触；

所述样品杆装置还包括有：

放置在导热板板面上的样品组件；所述样品组件包括：

位于底部的稳温端底座；

位于顶部的发射端顶座；以及

一端与稳温端底座连接固定，另一端与发射端顶座连接固定的屏蔽罩体；

所述稳温端底座、发射端顶座以及屏蔽罩体形成有容纳腔；

所述屏蔽罩体外侧壁表面与连接件之间，以及发射端顶座顶部表面与二级传热环件底部表面之间均不相接触；

所述样品组件还包括有：

悬置于所述容纳腔内的通过量热棒与所述稳温端底座连接固定的吸收端样品件；以及

悬置于所述容纳腔内的通过绝热棒与所述发射端顶座连接固定的发射端样品件；

所述发射端样品件处于吸收端样品件上方位置且对应设置，且所述吸收端样品件顶部表面与发射端样品件底部表面之间留有间隙。

2.根据权利要求1所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述样品组件还包括有罩设在所述吸收端样品件上的吸收端屏蔽罩，以及罩设在所述发射端样品件上的发射端屏蔽罩；

所述吸收端样品件顶部表面由吸收端屏蔽罩暴露出，所述发射端样品件底部表面由发射端屏蔽罩暴露出。

3.根据权利要求1所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述样品杆装置还包括有热开关；所述热开关包括：

位于所述真空管中空内腔中的中心管；

结合固定于所述中心管一端部的开关触碰件；以及

结合固定于所述中心管另一端部的开关位移件；

所述绝热棒包括有贯穿所述绝热棒顶部表面以及底部表面的贯穿孔；

所述中心管穿过所述二级传热环件以及发射端顶座延伸至绝热棒的贯穿孔内，所述开关触碰件位于所述贯穿孔内，且位于该开关触碰件所对应的发射端样品件的上方位置。

4.根据权利要求3所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述发射端顶座包括有供中心管穿过的通孔，所述发射端顶座的顶部表面上设置有发射端挡板，该发射端挡板具有供所述中心管穿过的过孔；

所述过孔的孔径小于所述通孔的孔径。

5.根据权利要求1所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述绝热棒与所述发射端顶座之间设置有距离调整片。

6.根据权利要求1所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述导热板包括有由所述导热板顶部表面向内凹陷形成的凹陷部，所述稳温端底座位于所述凹陷部内。

7.根据权利要求1所述的样品杆装置，其特征在于，优选地，所述样品杆装置还包括有套设在所述真空管上的辐射挡板，所述辐射挡板位于所述真空罩体的上方位置，且所述辐射挡板与真空管管壁结合固定。

8.一种用于低温辐射性能测试的测试设备，其特征在于，所述测试设备包括如权利要求1至7任意一项权利要求所述的样品杆装置；该测试设备还包括有低温装置；所述低温装置包括：

具有一级冷头和二级冷头的制冷机；以及

具有真空内腔的真空罩；所述一级冷头、一级换热器、二级冷头以及二级换热器均位于所述真空罩的真空内腔中；所述一级冷头上以及二级冷头上分别设置有一级换热器和二级换热器；

所述样品杆装置的真空罩体位于真空罩的真空内腔中，且位于靠近所述二级冷头的位置，并被所述二级换热器包围。

9.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，优选地，所述低温装置还包括有位于所述真空罩的真空内腔中的屏蔽罩；

所述一级冷头、一级换热器、二级冷头、二级换热器以及样品杆装置的真空罩体均位于所述屏蔽罩内。

10.根据权利要求8所述的测试设备，其特征在于，优选地，所述低温装置还包括有位于所述真空罩上方位置的，且包括有过渡腔室的过渡腔体，过渡腔室与真空内腔连通，且所述过渡腔体上设置有真空球阀；

所述样品杆装置的包括有真空罩体的一端由所述过渡腔体的远离真空罩的一端插入至所述屏蔽罩内。