[发明专利]磁体永久磁化检测装置及其测量控制方法有效

专利信息
申请号: 201810611822.1 申请日: 2018-06-13
公开(公告)号: CN109061530B 公开(公告)日: 2023-10-03
发明(设计)人: 肖涛;程慧华;冒守栋;曾许多 申请(专利权)人: 杭州永磁集团有限公司
主分类号: G01R33/12 分类号: G01R33/12
代理公司: 杭州融方专利代理事务所(普通合伙) 33266 代理人: 沈相权
地址: 311201 浙江*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 磁体 永久 磁化 检测 装置 及其 测量 控制 方法
【说明书】:

发明公开了磁体永久磁化检测装置及其测量控制方法。属于磁体的磁力强度检测技术领域,该装置被测磁体的磁场对磁力检测设备干扰小,测量速度快,易于测量。包括微控制器、存储器、数据处理模块和水平台,在水平台的正上方设有竖直管,在竖直管的左侧壁外表面上和右侧壁外表面上分别密封连接有左遮光罩和右遮光罩,在竖直管的左侧壁上和右侧壁上分别设有相互水平正对布置的左侧壁孔和右侧壁孔,在左遮光罩内设有光发射机构,在右遮光罩内设有光接收机构;在竖直管的上下管口分别设有上遮光布和下遮光布,在上遮光布和下遮光布之间的竖直管内活动设有基准磁体;存储器、数据处理模块、光发射机构和光接收机构分别与微控制器连接。

技术领域

本发明涉及磁体的磁力强度检测技术领域,具体涉及磁体永久磁化检测装置及其测量控制方法。

背景技术

现有测量磁体磁力强度的装置一般都是采用磁测仪器进行测量,但现有磁测仪器内部设有较多电子元器件,这些电子元器件在使用过程中会受到被测磁体的磁场干扰,导致测量不准;由于磁测仪器必须带电测量,因此若被测磁体的磁场强度较大时甚至还有可能损坏磁测仪器内的电子元器件。

发明内容

本发明是为了解决现有磁测仪器存在的上述不足,提供一种被测磁体的磁场对磁力检测设备干扰小,测量速度快,易于测量,结构简单,可靠性高的磁体永久磁化检测装置及其测量控制方法。

以上技术问题是通过下列技术方案解决的:

磁体永久磁化检测装置,包括微控制器、存储器、数据处理模块和水平台,在水平台的正上方设有竖直管,并且竖直管的管心线垂直于水平台的上表面;在竖直管的左侧壁外表面上和右侧壁外表面上分别密封连接有左遮光罩和右遮光罩,在竖直管的左侧壁上和右侧壁上分别设有相互水平正对布置的左侧壁孔和右侧壁孔,并且左侧壁孔和右侧壁孔分别被左遮光罩的罩口和右遮光罩的罩口所围;在左遮光罩内设有水平射出的光为平行光的光发射机构,在右遮光罩内设有光接收机构;在竖直管的上下管口分别设有上遮光布和下遮光布,在上遮光布和下遮光布之间的竖直管内活动设有基准磁体;存储器、数据处理模块、光发射机构和光接收机构分别与微控制器连接。

存储器、数据处理模块、光发射机构和光接收机构均在微控制器的控制下工作。

一种适用于磁体永久磁化检测装置的测量控制方法,其测量控制方法如下:

将被测磁体固定放置在竖直管下方的水平台上,并且让基准磁体和被测磁体的相同磁极正对布置;基准磁体受到被测磁体向上的磁力排斥会悬浮在竖直管内;基准磁体在竖直管内悬浮的高度与受到被测磁体向上的排斥磁力大小有关;基准磁体在竖直管内悬浮的越高则说明基准磁体受到被测磁体向上的排斥磁力越大,基准磁体在竖直管内悬浮的越低则说明基准磁体受到被测磁体向上的排斥磁力越小;

在光发射机构所发出的光恒定不变的条件下,基准磁体在竖直管内的悬浮高度可通过光发射机构发出后而没被基准磁体遮挡的光被光接收机构接收到的光照强度的大小来获得;

因此,可根据光接收机构接收到的光照强度的大小来测量被测磁体的磁力强度,被测磁体的磁力强度大则光接收机构接收到的光照强度就大,被测磁体的磁力强度小则光接收机构接收到的光照强度就小;

预先在存储器中存储若干个光照强度值,并同时在存储器中存储与各个光照强度值一一对应的磁力强度值;

在测量被测磁体的磁力强度时,只需检测到被测磁体在测量时的光照强度值就可获得该被测磁体的磁力强度值。

本方案在测量被测磁体的磁力强度时,由于光信号不易受到磁场的干扰,从而使得被测磁体的磁场对磁力检测设备干扰小,测量速度快,易于测量,结构简单,可靠性高。

作为优选,在水平台上设有支架,在支架上设有伸缩杆竖直伸缩的一号气缸,竖直管通过一根连接杆固定连接在一号气缸的伸缩杆上;在支架上还设有被测物高度测量机构;被测物高度测量机构的控制端和一号气缸的控制端分别与微控制器连接。

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