[发明专利]一种MWT电池堵孔不良片的测试夹具及其使用方法

说明书

本发明公开一种MWT电池堵孔不良片的测试夹具及其使用方法，通过设计N²/2（当N为偶数）或（N²‑1）/2（当N为奇数）组独立排布的测试回路，依次或同步测试MWT电池上所有的负极之间电阻值，从而有效检测出MWT堵孔不良片。同时，将测试的电阻值信号传输给自动化设备，可以快速有效实现MWT电池堵孔不良片的检测与筛选。

技术领域

本发明涉及一种MWT电池堵孔不良片的测试夹具及其使用方法，属于MWT太阳能电池组件测试技术领域。

背景技术

目前，晶体硅太阳能技术包括异质结太阳能电池(HIT)，背电极接触硅太阳能电池(IBC)，发射极环绕穿通硅太阳能电池(EWT)，激光刻槽埋栅电池，倾斜蒸发金属接触硅太阳能电池(OECO)及金属穿孔卷绕硅太阳能电池(MWT)等。其中，MWT电池因其效率高，遮光面积小以及更好的外观特点受到越来越多的关注。

MWT硅太阳能电池是通过激光钻孔将正面栅线收集的载流子穿过电池转移至电池背面，以减少遮光面积来达到提高转换效率的目的。由此，为实现MWT电池结构，需要在常规电池结构中加入打孔和孔洞导通两个功能。其中，打孔目前往往采用激光打孔的方式实现；孔洞导通往往采用丝网印刷填孔浆料，然后与正面电极和铝背场共烧结实现。如专利CN201410016190.6提供了一种低成本的MWT电池制备方法，该方法在传统晶硅电池的制作流程上仅增加两道工序实现MWT电池结构，由于该方法工艺简单，设备投产少，已成为业内目前MWT电池唯一量产工艺。

由于MWT电池片的正负电极点均分布在电池片的背面，使得MWT电池片的电性能测试有别于常规电池片，测试夹具的设计已成为MWT电池的关键技术之一。专利CN201610855336.5已公布一种方法，通过在正电极点使用同轴探针，模拟常规电池片上下探针对称下压的方式，在保证测试精度的同时，在很大程度上降低了测试碎片率，该方法也是唯一量产测试方法。

由于MWT电池的孔洞数量较多，且采用丝网印刷填孔浆料外加共烧结的方式实现孔洞导通，受生产线波动影响，难免存在一定比例的某一个或多个孔洞导通状态不良甚至不导通的电池片，简称MWT堵孔不良片。此类电池片的串联电阻增加，影响电池片或组件的转换效率和EL良率。因此这类电池片的筛选是非常必要和重要的。

目前MWT堵孔不良片测试方式存在如下的缺陷：

(1)万用表测试：采用万用表测试两个负极点处的电阻值可以有效检测出MWT堵孔不良片，但人工测试如此众多点之间的电阻，工作量巨大，基本无法满足要求。

(2)EL测试：EL测试可以自动化连续测试，但通过EL图片的明暗度差别无法有效辨别MWT堵孔不良片，误判率极高，基本失去作用。

由此，目前没有一种有效测试并筛选MWT堵孔不良片的方法，急需一种自动化设备满足对MWT堵孔不良片及时、有效筛选。

发明内容

发明目的：针对现有技术中存在的问题与不足，本发明提供一种MWT电池堵孔不良片的测试夹具及其使用方法。

技术方案：一种MWT电池堵孔不良片的测试夹具，用于测试N×N均匀分布结构的MWT电池，包括上测试夹具和下测试夹具；所述下测试夹具包括与MWT电池负极排数相等的N排下测试探针排；所述每排下测试探针排包括N个同轴探针和多个下探针；所述同轴探针的位置与MWT电池的负极相对应，同轴探针的上端用于连接电池负极，同轴探针的上端高度与下探针上端高度齐平；所述下测试夹具的N×N个同轴探针两两一组，每组同轴探针连接一个恒流源组成电阻的测试回路，两个同轴探针的下端分别连接恒流源的两端。

当N为偶数时，同轴探针两两一组，N×N个同轴探针被分成N²/2组；当N为奇数时，同轴探针两两一组，N×N个同轴探针被分成(N²-1)/2组，当N为奇数时，最中心一个同轴探针不测试。