[发明专利]一种基于激光测试工件缝隙值的方法及系统有效

专利信息
申请号: 201810614616.6 申请日: 2018-06-14
公开(公告)号: CN108801164B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 胡学海;胡文翔;黄杨笃优;陈俊 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: G01B11/14 分类号: G01B11/14
代理公司: 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 代理人: 温利平
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 激光 测试 工件 缝隙 方法 系统
【权利要求书】:

1.一种基于激光测试工件缝隙值的方法,其特征在于,包括以下步骤:

(1)设置参数,所述参数包括缝隙判定参数、去跳变点参数以及倾斜校准参数;

(2)利用激光传感器扫描被测工件,获取被测工件轮廓数据,并将被测工件轮廓数据解析为二维轮廓数据,所述二维轮廓数据为包含N个采集点的X轴数据与包含N个采集点的Z轴数据,其中,N为被测工件轮廓数据内所有采集点的总数;

(3)根据去跳变点参数对二维轮廓数据进行去跳变点处理;

(4)根据倾斜校准参数对去除跳变点后的二维轮廓数据进行倾斜校准,得到与真实二维轮廓数据相似的二维轮廓数据;

(5)根据缝隙判定参数,采用有阶差缝隙判定方法判定步骤(4)得到的二维轮廓数据中是否具有有阶差缝隙,若有,则得到有阶差缝隙的缝隙起点B1和缝隙终点C1;若无,则采用无阶差缝隙判定方法判定步骤(4)得到的二维轮廓数据中是否具有无阶差缝隙,若有,则得到无阶差缝隙的缝隙起点B2和缝隙终点C2

(6)计算有阶差缝隙的缝隙起点B1和缝隙终点C1的X轴数据的差值或无阶差缝隙的缝隙起点B2和缝隙终点C2的X轴数据的差值,并将其差值的绝对值作为缝隙值;

所述缝隙判定参数包括:基准线位置Ld、基准长度Lb、基准判定系数Mb、测量长度Lg、测量方向Md、基准选取长度Nb、缝隙判定终点Ng、缝隙判定系数MG、缝隙判定长度NG;所述去跳变点参数包括跳变判定系数MB、跳变判定长度NB;所述倾斜校准参数包括倾斜校准系数ML和倾斜校准长度NL

所述步骤(3)的对二维轮廓数据进行去跳变点处理,其具体包括:

从二维轮廓数据中第NB个采集点开始,分别逐点选取其前NB个采集点和后NB个采集点,其中,NB为用于判定跳变点的比较点个数;

分别将前NB个采集点和后NB个采集点与该采集点进行比较,若均有NB-2个以上的采集点与该采集点Z轴数据的差值的绝对值大于跳变判定系数MB,则判定该采集点为跳变点;

将该跳变点用其前面NB个采集点的Z轴数据平均值代替。

2.根据权利要求1所述的基于激光测试工件缝隙值的方法,其特征在于,所述步骤(5)的有阶差缝隙判定方法判定过程包括:

(51)确定有阶差缝隙判定基准值GAvg1:

若当前采集点与前后采集点的Z轴数据差值的绝对值小于基准判定系数Mb,则认定该点为波动较小的点,从基准线与轮廓线交点最近的采集点开始向设置好的测量方向Md出发,选取连续Nb个Z轴数据波动较小的采集点,并求出其Z轴数据均值GAvg1作为有阶差缝隙判定基准值GAvg1,假设起点为S,则GAvg1计算方式:

其中,Nb为基准选取长度,即选择用于判定基准线波动较小的采集点个数;

Z[i]为采集点i的Z轴数值大小;

(52)寻找有阶差缝隙起始点B1点:

遍历测量长度Lg范围内有阶差缝隙判定基准值GAvg1采集点之后的采集点,寻找采集点B1,该采集点B1的Z轴数值小于GAvg1,且与GAvg1的差值的绝对值大于缝隙判定系数MG,并将该采集点B1点为有阶差缝隙起点;

(53)寻找有阶差缝隙终点C1点:

从设置好的测量方向Md出发遍历测量长度Lg范围内有阶差缝隙起始点B1之后的采集点,寻找采集点C1,该采集点C1的Z轴数值大于有阶差缝隙起始点B1点Z轴数值,且与B1点Z轴数值的差值的绝对值大于缝隙判定系数MG,假设C1点为轮廓数据中的有阶差缝隙终点;

(54)判定采集点C1为有阶差缝隙终点:

从设置好的测量方向Md出发比较测量长度Lg范围内的采集点C1之后连续的NG个采集点是否均满足Z轴数值减去B1点Z轴数值大于MG,若满足,则判定C1点为轮廓数据中的有阶差缝隙终点,判定二维轮廓数据中具有有阶差缝隙;

(55)无阶差缝隙判定方法判定过程为:

寻找无阶差缝隙起点B2和终点C2,遍历基准线位置Ld起到测量方向Md距离为测量长度Lg的二维轮廓数据,逐点比较二维轮廓数据中相邻两采集点的X轴数值的差值,若存在某相邻两采集点的X轴数值的差值的绝对值大于缝隙判定系数MG,则判定此相邻的两采集点为缝隙的起始点B2与终点C2,判定二维轮廓数据中具有无阶差缝隙。

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