[发明专利]一种PD和QC兼容性快充快放老化系统

说明书

本发明涉及老化测试技术领域，尤其是指一种PD和QC兼容性快充快放老化系统，包括老化测试模块、上位机监控模块、通信模块、供电电源模块；所述老化测试模块包括：QC充电控制模块、QC放电电压控制模块、PD充放电控制模块、恒流放电控制模块、电流采集模块、电压采集模块、主控MCU模块、充放电协议切换模块。本发明提供了快充类充电器和快充类移动电源等新兴电源类产品的智能化测试和老化方案，兼顾普通充电类产品和普通移动电源的测试和老化。

技术领域

本发明涉及老化测试技术领域，尤其是指一种PD和QC兼容性快充快放老化系统。

背景技术

目前快充技术以及与快充技术相关的移动电源深受用户的欢迎，占领大部分市场。伴随着这些快充产品的应用，随之而来就带来了对快充充电器、移动电源、快充式移动电源等被测品在生产中的老化测试问题，品质保障、低成本、高效率、可批量老化测试的设备被广泛需求。目前市场上的对这几类产品的老化测试却面临许多困局如：单台电源或者单台负载仪只对应一台产品的老化测试，测试成本高，效率低，智能化程度低；又如快充充电器和快充式移动电源等被测品只能使用专用仪器实现快充的升压降压的快充功能测试和老化测试，并且面对目前市场上的多种快充技术协议，需要使用多种测试仪器进行老化测试，成本高，兼容性低，效率低且极不方便。

发明内容

本发明针对现有技术的问题提供一种PD和QC兼容性快充快放老化系统。

为了解决上述技术问题，本发明采用如下技术方案：一种PD和QC兼容性快充快放老化系统，包括老化测试模块，用于对被测品进行充电测试或者放电测试；上位机监控模块，用于对老化测试模块进行控制和功能切换；通信模块，用于实现上位机监控模块和老化测试模块之间的通信互联；供电电源模块，用于对老化测试模块进行电源供电；所述老化测试模块包括：QC充电控制模块，用于对支持QC充放技术的被测品进行QC快速充电；QC放电电压控制模块，用于为支持QC充放技术的被测品输出指定的QC放电电压；PD充放电控制模块，用于对支持PD充放技术的被测品进行PD快速充电或者为支持PD充放技术的被测品输出指定的PD放电电压；恒流放电控制模块，用于在放电测试时，将放电电流恒定在一个指定的电流值；电流采集模块，用于在充电或者放电过程中对被测品进行电流数据的采集；电压采集模块，用于在充电或者放电过程中对被测品进行电压数据的采集；主控MCU模块，用于向QC充电控制模块发送QC充电控制命令,用于向QC放电控制模块发送QC放电控制命令，用于向PD充放电控制模块发送PD充电控制命令或者PD放电控制命令；充放电协议切换模块，用于接收主控MCU模块的控制命令，实现QC充放电或者PD充放电的切换。

进一步的，所述PD充放电控制模块包括通信控制芯片U10、充电管理芯片U9和至少一个用于调整充电管理芯片的输出电压的三极管，每一个三极管的基极均与通信控制芯片U10耦接，每一个所述三极管均设有调整电阻，所述调整电阻的一端与三极管的集电极连接，所述调整电阻的另一端与充电管理芯片U9的输出端连接，每一个所述三极管的发射极均接地；所述通信控制芯片U10设有用于与PD被测电源进行通信连接的通信引脚和用于与芯片U1进行通信连接的PD充电控制引脚。

进一步的，连接端口USB1、连接端口USB2、继电器RL1A、继电器RL1B和用于控制继电器RL1A的继电器RL1A控制电路，所述继电器RL1A控制电路的输入端与芯片U1耦接，所述继电器RL1A控制电路的输出端与继电器RL1A的控制端耦接，所述连接端口USB1和连接端口USB2分别与继电器RL1A耦接，所述继电器RL1B的控制端与芯片U1耦接，所述继电器RL1B的静触点与连接端口USB1耦接，所述继电器RL1B的动触点与耦接。