[发明专利]一种隐形切割LED芯片及其制作方法在审

专利信息
申请号: 201810620845.9 申请日: 2018-06-15
公开(公告)号: CN108538783A 公开(公告)日: 2018-09-14
发明(设计)人: 崔永进 申请(专利权)人: 佛山市国星半导体技术有限公司
主分类号: H01L21/78 分类号: H01L21/78;H01L21/304;H01L33/00
代理公司: 广州三环专利商标代理有限公司 44202 代理人: 胡枫
地址: 528200 广东省佛山市南海区狮*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 衬底 单颗LED芯片 第二表面 第一表面 发光结构 隐形切割 侧壁 划痕 制作 残留物去除 激光切割 漏电问题 有效解决 切割道 良率 量产 裂片 酸液 清洗 芯片
【权利要求书】:

1.一种隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,包括:

提供衬底,其包括第一表面和第二表面;

在衬底的第一表面形成发光结构;

采用隐形激光切割方法在衬底的第二表面形成划痕;

沿着所述划痕对衬底和发光结构进行裂片,形成单颗LED芯片;

用酸液对单颗LED芯片的侧壁进行清洗,将单颗LED芯片侧壁的残留物去除。

2.如权利要求1所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,所述衬底的划痕深度大于衬底厚度的五分之一,且小于衬底厚度的三分之一。

3.如权利要求2所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,所述衬底的厚度为50-300nm。

4.如权利要求2所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,采用355nm-1064nm的激光对衬底的第二表面重复至少一次划片。

5.如权利要求4所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,将激光单光点在衬底的第二表面并划2次。

6.如权利要求1所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,所述酸液为盐酸和/或硝酸。

7.如权利要求1所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,所述发光结构包括设于衬底第一表面的第一半导体层、设于第一半导体层上的有源层、设于有源层上的第二半导体层、贯穿第二半导体层和有源层并延伸至第一半导体层的孔洞、设置在孔洞内并与第一半导体层导电连接的第一电极、以及与第二半导体层导电连接的第二电极。

8.如权利要求7所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,发光结构还包括依次设于第二半导体层上的电流阻挡层、透明导电层和绝缘层,其中,第二电极设于透明导电层上。

9.如权利要求8所述的隐形切割LED芯片的制作方法,其特征在于,所述绝缘层还覆盖在孔洞的侧壁和裸露出来的第一半导体层上。

10.一种隐形切割LED芯片,其特征在于,包括:

衬底,其包括第一表面和第二表面;

设于衬底第一表面上的发光结构;

设于衬底第二表面上的划痕,所述划痕深度大于衬底厚度的五分之一,且小于衬底厚度的三分之一。

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