[发明专利]一种CVD单晶金刚石异质外延衬底的结构及制备方法在审
申请号: | 201810621757.0 | 申请日: | 2018-06-15 |
公开(公告)号: | CN108707965A | 公开(公告)日: | 2018-10-26 |
发明(设计)人: | 左浩;李升;刘宏明 | 申请(专利权)人: | 西安碳星半导体科技有限公司 |
主分类号: | C30B25/18 | 分类号: | C30B25/18;C30B29/04;C23C28/00;C23C14/18;C23C14/35;C23C16/27;C23C16/511 |
代理公司: | 北京盛凡智荣知识产权代理有限公司 11616 | 代理人: | 刘晓晖 |
地址: | 710000 陕西省西安市国家民用航天产*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 衬底 蓝宝石 顶部外壁 金刚石 制备 大面积单晶 单晶金刚石 异质外延 金属 表面粗糙度检测 粗糙度检测 磁控溅射 实时检测 吸尘设备 层厚度 成核层 低成本 光滑度 光系统 纳米晶 生长 淀积 可用 外壁 废渣 | ||
本发明公开了一种CVD单晶金刚石异质外延衬底的结构及制备方法,其结构,包括蓝宝石衬底,所述蓝宝石衬底的顶部外壁设置有金属IR层,且金属IR层的顶部外壁设置有纳米晶金刚石成核层,且结构的制备方法,包括在蓝宝石衬底的顶部外壁通过剖光系统进行单面剖光,并通过表面粗糙度检测仪进行粗糙度检测,若蓝宝石衬底单面剖光不合格时则继剖光,直至合格,同时通过吸尘设备吸取废渣,使用磁控溅射方法,在S1中单面剖光后的蓝宝石衬底的外壁淀积一层厚度为100‑300nm的金属IR层。本发明实现大面积单晶金刚石的低成本生长,可用于生长英寸级的大面积单晶金刚石,能够实时检测蓝宝石衬底单面剖光的光滑度。
技术领域
本发明涉及金刚石外延衬底技术领域,尤其涉及一种CVD单晶金刚石异质外延衬底的结构及制备方法。
背景技术
VD(Chemical Vapor Deposition化学气相沉积)金刚石。含碳气体和氧气的混合物在高温和低于标准大气压的压力下被激发分解,形成活性金刚石碳原子,并在基体上沉积交互生长成聚晶金刚石(或控制沉积生长条件沉积生长金刚石单晶或者准单晶)。
经检索,中国专利申请号为CN201410794743.0的专利,公开了一种异质外延生长大尺寸单晶金刚石的衬底及其制备方法。所述衬底自下而上依次为Si衬底、TiN单晶籽晶层、金属氧化物单晶薄膜层、铱单晶薄膜层。上述专利中的一种异质外延生长大尺寸单晶金刚石的衬底及其制备方法存在以下不足:不能够实现大面积单晶金刚石的低成本成长,不利于英寸级的大面积单晶金刚石。
发明内容
基于背景技术存在的技术问题,本发明提出了一种CVD单晶金刚石异质外延衬底的结构及制备方法。
本发明提出的一种CVD单晶金刚石异质外延衬底的结构,包括蓝宝石衬底,所述蓝宝石衬底的顶部外壁设置有金属IR层,且金属IR层的顶部外壁设置有纳米晶金刚石成核层。
一种CVD单晶金刚石异质外延衬底结构的制备方法,包括以下步骤:
S1:在蓝宝石衬底的顶部外壁通过剖光系统进行单面剖光,并通过表面粗糙度检测仪进行粗糙度检测,若蓝宝石衬底单面剖光不合格时则继剖光,直至合格,同时通过吸尘设备吸取废渣;
S2:使用磁控溅射方法,在S1中单面剖光后的蓝宝石衬底的外壁淀积一层厚度为100-300nm的金属IR层;
S3:在金属IR层上使用微波等离子体化学气相淀积设备低压力低功率密度下生长一层纳米晶金刚石层,并通过低压力低功率控制系统实施控制,保证纳米晶金刚石层的生长质量,纳米晶金刚石层即为纳米晶金刚石成核层。
优选地,所述磁控溅射方法包括以下步骤:
S1:将待溅射的蓝宝石衬底送入磁控溅射设备的装卸腔,并在装卸腔内设置匀速旋转放置架,待溅射的蓝宝石衬底固定在旋转放置架上,匀速旋转放置架将蓝宝石衬底旋转入磁控溅射设备内的反应仓内,并在反应仓内充入氩气;
S2:5-7秒后,对金属IR靶材施加1600W~1800W的第一DC偏压,进行起辉;
S3:5-7秒后,停止通入氩气;
S4:16-18秒后,将S2中的第一DC偏压增加至第二DC偏压,第二偏压的功率为10000W-20000W,在下电极上以1000W/s-3000W/s的速率加载RF偏压,RF偏压的功率为1000W-1500W;
S5:10-14秒后,停止施加DC偏压及RF偏压,继续向反应腔室中通入氩气,完成产品冷却,得到金属IR层。
优选地,所述低压力低功率控制系统包括检测装置和调节装置,且检测装置包括压力检测器和功率检测仪。
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