[发明专利]一种新型安全的智能锁功能按键设计

说明书

本发明属于安保装置及方法技术领域，具体涉及一种新型安全的智能锁功能按键设计。目前很多智能锁为了方便用户，会在室内配置具有一键开锁的功能按键。但是一般采用单刀单掷开关的功能按键设计，在强电磁场干扰下，上拉电阻会有感应电流，引脚上出现低电平，触发了不应该的开锁动作导致非常大的安全隐患。基于以上安全隐患，我们设计了新的功能按键，使用一个双刀双掷开关按键。其中一个引脚原理与上述传统的开锁开关原理相同，平时处于高电平，开关按下变为低电平，触发MCU中断。MCU检测到中断后，需要再检测另外一个引脚是否为高电平，如果不是高电平则不进行开锁动作，从而解决了功能按键开关的在强电磁场干扰的情况下安全隐患。

技术领域

本发明属于安保装置及方法技术领域，具体涉及一种新型安全的智能锁功能按键设计。

背景技术

目前现代科技的不断发展，智能锁使用越来越普遍，目前很多智能锁、电子锁为了方便用户，会在室内配置具有一键开锁的功能按键，只要按一下即可完成开锁动作。但是一般功能按键设计比较简单，在强电磁场干扰的情况下，容易导致门锁被误打开从而导致非常大的安全隐患。

发明内容

本发明的目的是为了解决当前智能锁普遍采用的单刀单掷开关的功能按键设计的安全隐患，本发明提供了一种新型安全的智能锁功能按键设计，解决了功能按键开关的在强电磁场干扰的情况下安全隐患。

传统的室内开锁功能按键原理图如下（如图1 是传统的室内开锁功能按键原理图）：如图功能按键开关平时处于分断状态，A引脚为高电平；按下开关，开关闭合，A引脚接地，变为低电平。A引脚的下降沿触发MCU中断，进行开锁动作。

在强电磁场干扰的情况下，上拉电阻会有感应电流，导致电阻上有压降。当压降到达一定值，A引脚上出现低电平，误触发MCU中断，所以触发了不应该的开锁动作从而导致锁的误开，导致非常大的安全隐患及带来用户的可能财产损失。

基于当前市场上功能按键开关的安全隐患，我们设计了双刀双掷开关的功能按键设计，新型安全功能按键原理如下（如图2 是新型安全功能按键原理图）：我们使用一个双刀双掷开关按键代替单刀单掷开关按键。A引脚原理与上述传统的开锁开关原理相同，平时处于高电平，开关按下变为低电平，触发MCU中断。MCU检测到中断后，需要再检测B引脚是否为高电平，如果不是高电平则不进行开锁动作。

当A 高电平/B低电平开关弹起，当A 地电平/B高电平开关压下触发开锁，其他情况认为异常情况。

A、B引脚在走线上是相邻的。所以在受到强电磁场干扰的情况下，不会出现一高一低的情况。并且A、B引脚的输入前加入了π型RC滤波电路，进一步增强了抗电磁场干扰的能力，从而保证新型功能键的安全性。

以上所述仅是本发明优先的实施方式，对于本技术领域的技术人员来讲，在不脱离本方面技术原理的情况下，还可以做出一些改进和变型，这些改进和变型也应该视为本发明的保护范围。