[发明专利]一种辐照材料力学性能测试方法有效

专利信息
申请号: 201810629203.5 申请日: 2018-06-19
公开(公告)号: CN108827773B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 郭强;刘煜;李志强;欧阳求保;张荻 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N3/08 分类号: G01N3/08;G01N3/06;G01N23/2251
代理公司: 上海伯瑞杰知识产权代理有限公司 31227 代理人: 胡永宏
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 一种 辐照 材料 力学性能 测试 方法
【权利要求书】:

1.一种辐照材料力学性能测试方法,其特征在于,包括如下步骤:

(1)根据待测试的辐照材料选择注入离子源,计算注入元素分布和dpa分布,对所述辐照材料进行离子辐照,得离子分布;其中:

所述辐照材料包括金属、金属合金或金属基复合材料;

(2)依据所述辐照材料的离子分布,用聚焦离子束(FIB)将所述辐照材料加工为长径比2-6:1且上、下锥度不大于3°的微纳柱体或拉伸样用于单轴测试;其中:

所述微纳柱体的加工方式选自:

①当离子浓度在辐照区域内均匀分布且注入深度深时,离子束上表面注入,并采用聚焦离子束加工使其高度与离子辐照深度一致;

②当离子浓度在辐照区域内分布不均匀或注入深度浅时,离子束侧面注入,并采用聚焦离子束沿上表面边缘加工使其直径等于辐照区域深度;

(3)在纳米压痕或电镜的原位微纳力学测试系统中设定压缩或拉伸参数,用平头压头或特制拉伸夹具对所述微纳柱体或拉伸样进行单轴压缩或拉伸测试,获得应力-应变曲线后,得到所述辐照材料的屈服强度、流变应力和抗拉强度,同时经扫描电镜观察所述辐照材料的变形行为和透射电镜观察其微观组织结构。

2.如权利要求1所述的辐照材料力学性能测试方法,其特征在于,步骤(2)中,所述微纳柱体的长径比为3-5:1,且上、下锥度不大于3°

3.如权利要求1所述的辐照材料力学性能测试方法,其特征在于,步骤(2)中,所述微纳柱体的长径比为4:1,且上、下锥度不大于3°

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