[发明专利]一种键盘测试装置

说明书

本发明公开了一种键盘测试装置，包括顶架以及固定安装在顶架正下方的测试机，顶架底面与所述测试机顶面之间固定连接有连接架，测试机内设有敲打装置和除尘装置，敲打装置包括设置在测试机左侧底面内的第一容槽，第一容槽内设有敲打块，第一容槽内顶壁内设有第二容槽，第二容槽内设有底部与敲打块顶部固定连接的柔接端，第二容槽上方的测试机内设有第一滑运腔，第一滑运腔左侧内壁内设有第一滑运槽，第一滑运槽内滑运配合连接有向右侧延长设置的第一滑运块，第一滑运块右侧延长末尾伸至第一滑运腔内且与第一滑运腔右侧内壁滑运配合连接，第一滑运块底部末尾固定设置有向下延长设置的按杆；自行轮流敲打除尘，提高效率，减少成本。

本申请是申请号为2017108620006，申请日为2017年09月21日，发明创造名称为“一种计算机键盘测试装置”的专利的分案申请。

技术领域

本发明涉及计算机键盘技术领域，具体是一种计算机键盘测试装置。

背景技术

一款好的计算机键盘需要有较长的使用寿命，一款新的键盘产品研发出来需要对键盘按键进行敲打测试，对按键进行不间断的几十万次的敲击，目前市面上的按键寿命测试仪价格非常昂贵，而且结构复杂，日常维护检修困难，同时需要对键盘表面除尘，防止灰尘进入键盘影响键盘运行和测试精度，现有的测试方式成本高，难以被广泛接受。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种计算机键盘测试装置，其能够解决上述现在技术中的问题。

本发明是通过以下技术方案来实现的：本发明的一种计算机键盘测试装置，包括顶架以及固定安装在所述顶架正下方的测试机，所述顶架底面与所述测试机顶面之间固定连接有连接架，所述测试机内设有敲打装置和除尘装置，所述敲打装置包括设置在所述测试机左侧底面内的第一容槽，所述第一容槽内设有敲打块，所述第一容槽内顶壁内设有第二容槽，所述第二容槽内设有底部与所述敲打块顶部固定连接的柔接端，所述第二容槽上方的所述测试机内设有第一滑运腔，所述第一滑运腔左侧内壁内设有第一滑运槽，所述第一滑运槽内滑运配合连接有向右侧延长设置的第一滑运块，所述第一滑运块右侧延长末尾伸至所述第一滑运腔内且与所述第一滑运腔右侧内壁滑运配合连接，所述第一滑运块底部末尾固定设置有向下延长设置的按杆，所述按杆底部延长部通穿所述第一滑运腔与所述第二容槽之间的所述测试机且滑运配合连接，所述按杆底部延长末尾伸至所述第二容槽内且与所述柔接端顶部固定连接，所述除尘装置包括上下延长设置的第二滑运腔，所述第二滑运腔右侧内壁内设有第二滑运槽，所述第二滑运槽内设有向左侧延长设置的第二滑运块，所述第二滑运块左侧延长末尾伸至所述第二滑运腔内且与所述第二滑运腔左侧内壁滑运配合连接，所述第二滑运腔内的所述第二滑运块底面内设有除尘电转机，所述除尘电转机底部相对的所述第二滑运腔内底壁通穿设有贯出孔，所述贯出孔内配合连接有向上延长设置的除尘刷头，所述除尘刷头顶部与所述除尘电转机底部端配合连接，所述敲打装置和所述除尘装置之间的所述测试机内配合连接有带动装置，所述带动装置上方的所述测试机内设有用以与所述敲打装置和所述除尘装置轮流锁停连接的锁停装置。