[发明专利]光路调节装置、方法和重力仪有效
申请号: | 201810632473.1 | 申请日: | 2018-06-20 |
公开(公告)号: | CN108802841B | 公开(公告)日: | 2020-02-07 |
发明(设计)人: | 赵阳;王少凯;庄伟;李天初 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01V7/04 | 分类号: | G01V7/04 |
代理公司: | 11038 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人: | 赵倩男;刘剑波 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测量光束 重力仪 光路调节装置 光纤器件 光学组件 配置 入射光 准直器 反射 反射测量光束 水平基准面 光路垂直 器件提取 人为因素 输出探测 探测光纤 探测信号 复现性 灵敏度 准直光 探测器 垂直 传输 组建 | ||
1.一种光路调节装置,包括:
光纤器件,被配置为将入射光传输至准直器,以及提取重力仪光学组件反射回的测量光束;
准直器,被配置为将入射光转变为准直光;
重力仪光学组件,被配置为将准直光组建形成测量光束,并将测量光束反射回所述光纤器件;其中,所述重力仪光学组件为光学重力仪光学组件,包括:
半透半反镜,与水平基准面呈预定角度;
角锥棱镜,位于所述半透半反镜上方;
其中,准直光被所述半透半反镜反射至所述角锥棱镜,所述角锥棱镜将准直光平行反射回所述半透半反镜以形成测量光束,测量光束通过所述半透半反镜透射到水平基准面,水平基准面将测量光束反射至所述半透半反镜后,测量光束被透射至所述角锥棱镜,所述角锥棱镜将测量光束平行反射回所述半透半反镜,所述半透半反镜将测量光束反射至所述光纤器件;
探测器,被配置为探测所述光纤器件提取的反射测量光束,并输出探测信号,以便根据探测信号调节测量光束角度以使所述测量光束垂直于水平基准面。
2.根据权利要求1所述的光路调节装置,其中,所述光纤器件为光纤环形器;
其中,入射光通过所述光纤环形器的输入端入射到所述光纤环形器,并通过第一输出端输出至所述准直器;以及所述光纤环形器提取的反射测量光束通过第二输出端输出至所述探测器。
3.根据权利要求1所述的光路调节装置,其中,所述光纤器件为光纤分束器;
其中,入射光通过所述光纤分束器的第一分束端入射到所述光纤分束器,并通过合束端输出至所述准直器;以及所述光纤分束器提取的反射测量光束通过第二分束端输出至所述探测器。
4.根据权利要求1所述的光路调节装置,其中,
在所述探测信号的电压值为最大值的情况下,测量光束与水平基准面垂直;和/或
在所述探测信号的光功率值为最大值的情况下,测量光束与水平基准面垂直。
5.根据权利要求1-4任一所述的光路调节装置,还包括:
伺服控制系统,被配置为根据所述探测信号生成误差信号,基于误差信号生成伺服控制信号,并根据伺服控制信号控制可控镜架,以使测量光束垂直于水平基准面;其中,所述可控镜架用于夹持所述重力仪光学组件的镜面。
6.根据权利要求5所述的光路调节装置,其中,所述伺服控制系统包括:
功分器,被配置为将所述探测信号分为第一维度探测信号和第二维度探测信号;
第一伺服器,被配置为根据所述第一维度探测信号生成第一误差信号;
第二伺服器,被配置为根据所述第二维度探测信号生成第二误差信号;
第一控制器,被配置为基于第一误差信号生成第一伺服控制信号;
第二控制器,被配置为基于第二误差信号生成第二伺服控制信号;
第一驱动装置,被配置为根据所述第一伺服控制信号控制所述可控镜架的第一维度;
第二驱动装置,被配置为根据所述第二伺服控制信号控制所述可控镜架的第二维度。
7.根据权利要求5所述的光路调节装置,其中,所述可控镜架夹持所述半透半反镜;
所述伺服控制系统根据所述伺服控制信号控制所述可控镜架,以便调节所述半透半反镜的角度,从而使得测量光束垂直于水平基准面。
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