[发明专利]一种狭小空间点式激光测距装置及其测距方法在审

专利信息
申请号: 201810633680.9 申请日: 2018-06-20
公开(公告)号: CN108919287A 公开(公告)日: 2018-11-30
发明(设计)人: 牛洁;王鸣山;吴艳青;姚文娣 申请(专利权)人: 中核(天津)科技发展有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S7/48
代理公司: 天津创智天诚知识产权代理事务所(普通合伙) 12214 代理人: 周庆路;田阳
地址: 300000 *** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 测距 激光测距装置 狭小空间 控制器 分束镜 点式 单稳态触发器 控制器通信 通信连接 发光源 发射光 反射光 前级 发光
【说明书】:

发明公开了一种狭小空间点式激光测距装置及其测距方法,该装置包括控制器,用于分别测距的第一测道和第二测道,用以将发射光分为两束的前级分束镜,用以将反射光分为两束的后级分束镜以及用于发光的发光源,其中,控制器与单稳态触发器通信连接,第一测道和第二测道均与控制器通信连接,采用该测距方法能够实现更精确的测距。

技术领域

本发明属于激光测距技术领域,具体涉及一种狭小空间点式激光测距装置及其测距方法。

背景技术

激光具有方向性强、亮度高、聚焦温度高的特点,常用在激光测距装置上,用于测距,激光测距具有精度高、效率高的特点,但这种设备的尺寸比较大,激光的聚焦温度高,在使用激光发射器时,产生大量的热量,激光器的散热量高,不易实现轻型、小型化的设计,尤其在狭小空间中采用激光测距系统,散热空间有限,如不及时对热量进行疏导,将极大地减小激光测距装置的使用寿命。

激光测距系统的测距与激光发射脉冲的功率情况因素有关,其中,激光发射脉冲的功率直接影响测距的精确度。

激光测距系统发射脉冲激光测距时测距精确度主要受到时间差测量精确度的影响,然而由于时间测量技术的限制,现有技术中激光测距装置对上述时间差的测量精度较差,这就导致激光测距装置对距离的测量精度也较差。

而且,目前激光测距还采用红外测距方式进行测量距离,但是采用红外测距时长受被测物体的颜色、光反射率不同影响光电亮度大小的变化将使检测精度变差,且背景光对检测精度影响很大。

上述现有技术存在以下缺点;

1、目前激光测距设备尺寸较大,激光器散热量高,不易实现轻型小型化设计,当在狭小空间内使用时,散热空间有限,将极大地减小激光测距装置的使用寿命。

2、激光发射脉冲的功率直接影响测距的精确度,但现有的激光测距设备没有对激光发射脉冲的功率进行实时监控并及时调节的功能。

3、现有技术中激光测距装置对时间差的测量精度较差,这直接导致测距装置对距离的测量精度也较差。

4.采用红外测距的方式受被测物的影响较大,测量的精度受到很大的影响。

发明内容

本发明的目的在于克服现有技术的不足,提供一种狭小空间点式激光测距装置,该一种狭小空间点式激光测距装置具有结构简单、适合在散热空间有限的狭小空间使用、测量精度高的优点。

本发明还提供了一种狭小空间点式激光测距装置的测距方法,该方法测量精度高,方便使用。

本发明是通过以下技术方案实现的:

一种狭小空间点式激光测距装置包括控制器,用于分别测距的第一测道和第二测道,用以将发射光分为两束的前级分束镜和用以将反射光分为两束的后级分束镜,其中,所述控制器通过单稳态触发器触发发光源;

所述第一测道包括第一透光镜、第二透光镜、光电位置敏感器、专用集成电路、差分放大器和第一模数转换器,其中,所述专用集成电路与所述单稳态触发器相连接,所述专用集成电路与所述发光源发光相连接,所述发光源通过所述前级分束镜后一束光经所述第一透光镜照射到待测定物上,反射光经后级分束镜后一束光经第二透光镜照射到光电位置敏感器上,所述光电位置敏感器通过所述专用集成电路与所述差分放大器相连接,所述差分放大器与所述第一模数转换器相连接,所述第一模数转换器与所述控制器通信连接;

所述第二测道包括光电探测器,以及输出至所述的控制器的滤波电路,前级分束镜另一束光及后级分束镜另一束光分别先后照射在所述光电探测器并通过滤波电路将信号传输到所述控制器。

在上述技术方案中,所述专用集成电路上连接有电容MCP和电容MCM。

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