[发明专利]一种局部放电测试仪高速录波方法

说明书

本发明提出一种局部放电测试仪高速录波方法，采用硬件逻辑控制高速模/数转换器对高频局部放电信号进行实时采样，使用硬件自带的高速存储器作为缓冲区，保存高速采样取得的采样数据。收到录波启动信号时，将录波数据读取位置设定到当前写数据位置之前，超前的具体位置根据实际需要设定，录波启动信号可以由两个条件产生，即控制逻辑判断局放信号幅值超过设定阈值，自动产生以及由CPU控制产生。当写数据位置移动到数据读取位置前一个存储单元时，停止写操作，缓冲区写指示器指向下一个双端缓冲区，同时通知CPU开始读取录波数据。本发明可以保存和显示放电信号波形图，提供直观判据，更准确地区分局部放电信号和干扰信号。

技术领域

本发明涉及局部放电检测技术领域，特别是涉及一种局部放电测试仪高速录波方法。

背景技术

高压电气设备长期工作在高压环境下，设备的绝缘材料会逐渐劣化，产生局部放电，在强电场作用下甚至会被击穿，严重影响设备的正常运行。长期的局部放电会引起电气设备的绝缘故障，轻则影响电力使用，重则导致设备损坏，甚至发生爆炸，造成人员及财产的重大损失。所以，我们需要一种局部放电测试仪，定时检测电气设备。

但是，目前公知的局部放电测试仪只能够显示检测到的信号的数值，无法区分检测到的是真实的局部放电还是外部干扰，容易造成错误判断，浪费人力以及财力资源。另一方面，局放信号频率很高(几兆赫兹到几十兆赫兹)，对其进行采样和处理的速度更高，一般CPU无法完成如此快速而实时的操作，通常使用FPGA等硬件逻辑来实现，因此，局放信号的原始波形一般无法获取，造成局放判定缺乏直观判据。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，本发明提供了一种局部放电测试仪高速录波方法。本发明通过高速录波模块，对局部放电原始信号进行采样和保存，并显示波形图像，从而形成直观的故障判据。

为实现上述目的，本发明所采用以下技术方案：

一种局部放电测试仪高速录波方法，包括以下步骤：

S1：采用硬件逻辑控制高速模/数转换器(ADC)对高频局部放电信号进行实时采样。

S2：使用硬件自带的高速存储器保存高速采样取得的数据。高速存储器结构设计为多个双端缓冲区，使用缓冲区写指示器和读指示器指示当前读写缓冲区的位置。

S3：高速AD采样得到的数据依次写入缓冲区写指示器所指的双端缓冲区，写到最后一个存储单元时，写数据位置移到缓冲区的头部，实现循环保存。

S4：收到录波启动信号时，将录波数据读取位置设定到当前写数据位置之前，超前的具体位置根据实际需要设定，当写数据位置移动到数据读取位置前一个存储单元时，停止写操作，缓冲区写指示器指向下一个双端缓冲区，同时通知CPU开始读取录波数据。

S5：CPU从缓冲区读指示器所指的双端缓冲区的数据读取位置开始读取录波数据，当读数据位置移动到缓冲区尾部时，读数据位置移动到缓冲区头部，然后继续读取，直到读数据位置和写数据位置相等。

S6：缓冲区读指示器指向下一个双端缓冲区，如果读、写指示器不相等，则重复S7所述操作，否则完成录波数据读取过程。

优选的，录波启动信号可以由两个条件产生：控制逻辑判断局放信号幅值超过设定阈值自动产生和由CPU控制产生。

与现有技术相比，本发明的有益效果是在于测量局部放电幅值的同时可以保存和显示放电信号波形图，打破了只根据数值判断是否局放的局限性，可以更快捷准确地区分局部放电信号和干扰信号。

附图说明

下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。

图1是局部放电高速信号处理流程；

图2是局部放电高速录波模块。