[发明专利]砂体平面形态确定方法及系统有效
申请号: | 201810648360.0 | 申请日: | 2018-06-22 |
公开(公告)号: | CN108957582B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 陈彬滔;史忠生;杨丽莎;石兰亭;薛罗;何巍巍;马轮;赵伟;白洁;马凤良 | 申请(专利权)人: | 中国石油天然气股份有限公司 |
主分类号: | G01V9/00 | 分类号: | G01V9/00 |
代理公司: | 11127 北京三友知识产权代理有限公司 | 代理人: | 王涛 |
地址: | 100007 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 沉积 分布频率 平面形态 改造型 砂体 交错层 发育 厚度确定 沙纹 成功率 勘探 砾岩 泥岩 储层预测 平行层 建设 板状 薄层 波痕 槽状 冲刷 冲洗 钻井 煤层 流水 滞留 | ||
本发明提供一种砂体平面形态确定方法及系统。该砂体平面形态确定方法包括:根据槽状交错层理的厚度、板状交错层理的厚度、冲刷面和滞留砾岩的厚度、平行层理的厚度、流水沙纹层理的厚度、第一薄层泥岩的厚度和煤层的厚度确定建设型沉积构造发育层段的厚度;根据冲洗交错层理的厚度、浪成沙纹层理的厚度和波痕的厚度确定改造型沉积构造发育层段的厚度;根据建设型沉积构造发育层段的厚度和改造型沉积构造发育层段的厚度得到建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率;根据建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率确定砂体平面形态,可以精准确定砂体平面形态,提高储层预测精度、钻井成功率和勘探成功率,满足高效勘探的需求。
技术领域
本发明涉及地质研究技术领域,具体地,涉及一种砂体平面形态确定方法及系统。
背景技术
砂体平面形态直接关系到油气藏面积、储量大小、以及井位部署方案,能否准确界定地下储集砂体的平面形态对于提高钻井成功率和勘探成效而言至关重要。
目前确定砂体平面形态的技术主要是依据地震属性切片、地震反演砂泥岩分布等间接证据和研究人员的主观认识来确定砂体平面形态,因此经常造成砂体平面形态预测存在偏差,进而导致储层预测精度和勘探成功率低下,钻井失利,无法满足高效勘探的需求。
发明内容
本发明实施例的主要目的在于提供一种砂体平面形态确定方法及系统,以精准确定砂体平面形态,提高储层预测精度、钻井成功率和勘探成功率,满足高效勘探的需求。
为了实现上述目的,本发明实施例提供一种砂体平面形态确定方法,包括:
根据槽状交错层理的厚度、板状交错层理的厚度、冲刷面和滞留砾岩的厚度、平行层理的厚度、流水沙纹层理的厚度、第一薄层泥岩的厚度和煤层的厚度确定建设型沉积构造发育层段的厚度;
根据冲洗交错层理的厚度、浪成沙纹层理的厚度和波痕的厚度确定改造型沉积构造发育层段的厚度;
根据建设型沉积构造发育层段的厚度和改造型沉积构造发育层段的厚度得到建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率;
根据建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率确定砂体平面形态。
本发明实施例还提供一种砂体平面形态确定系统,包括:
建设型沉积构造发育层段厚度单元,用于根据槽状交错层理的厚度、板状交错层理的厚度、冲刷面和滞留砾岩的厚度、平行层理的厚度、流水沙纹层理的厚度、第一薄层泥岩的厚度和煤层的厚度确定建设型沉积构造发育层段的厚度;
改造型沉积构造发育层段厚度单元,用于根据冲洗交错层理的厚度、浪成沙纹层理的厚度和波痕的厚度确定改造型沉积构造发育层段的厚度;
分布频率单元,用于根据建设型沉积构造发育层段的厚度和改造型沉积构造发育层段的厚度得到建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率;
砂体平面形态单元,用于根据建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率确定砂体平面形态。
本发明实施例还提供一种计算机设备,包括存储器、处理器及存储在存储器上并可在处理器上运行的计算机程序,处理器执行计算机程序时实现以下步骤:
根据槽状交错层理的厚度、板状交错层理的厚度、冲刷面和滞留砾岩的厚度、平行层理的厚度、流水沙纹层理的厚度、第一薄层泥岩的厚度和煤层的厚度确定建设型沉积构造发育层段的厚度;
根据冲洗交错层理的厚度、浪成沙纹层理的厚度和波痕的厚度确定改造型沉积构造发育层段的厚度;
根据建设型沉积构造发育层段的厚度和改造型沉积构造发育层段的厚度得到建设型沉积构造分布频率或改造型沉积构造分布频率;
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