[发明专利]一种基于环境监测的多测试仪控制系统

说明书

本发明公开了一种基于环境监测的多测试仪控制系统，包括：多台测试仪、与测试仪一一对应的温度检测模块和温度调节模块、控制模块；各温度检测模块用于检测各测试仪所处环境的温度；各温度调节模块用于调节各测试仪所处环境的温度；控制模块分别连接各测试仪、各温度检测模块和各温度调节模块；控制模块中预设有高温阈值和低温阈值；控制模块获取各温度检测模块检测到的各测试仪所处环境的温度，然后将每一个温度检测模块检测到的各测试仪所处环境的温度分别与高温阈值和低温阈值比较，并根据比较结果控制与测试仪对应的温度调节模块和测试仪工作。

技术领域

本发明涉及测试仪温度调控技术领域，尤其涉及一种基于环境监测的多测试仪控制系统。

背景技术

P/N型号测试仪，适用于半导体材料厂，单晶硅厂商，科研单位等；特别适用于硅材料的快速分选，准确，清晰；性能优越，价格实惠，性价比高。但是所述测试仪的工作条件需要在适宜的温度范围内，不然，通过所述测试仪检测出来的硅材料P/N型号及电阻率会出现较大误差。

在一些特定的场景内通过测试仪检测硅材料P/N型号及电阻率时，将整个场景的温度均调节到适宜测试仪工作的温度范围内，容易造成能源浪费，提高了硅材料P/N型号及电阻率检测的检测成本。

发明内容

基于背景技术存在的技术问题，本发明提出了一种基于环境监测的多测试仪控制系统；

本发明提出的一种基于环境监测的多测试仪控制系统，包括：多台测试仪、与测试仪一一对应的温度检测模块和温度调节模块、控制模块；

各温度检测模块用于检测各测试仪所处环境的温度；

各温度调节模块用于调节各测试仪所处环境的温度；

控制模块分别连接各测试仪、各温度检测模块和各温度调节模块；

控制模块中预设有高温阈值和低温阈值；控制模块获取各温度检测模块检测到的各测试仪所处环境的温度，然后将每一个温度检测模块检测到的各测试仪所处环境的温度分别与高温阈值和低温阈值比较，并根据比较结果控制与测试仪对应的温度调节模块和测试仪工作。

优选地，所述控制模块，具体用于：

控制模块中预设有目标温度区间；当温度检测模块检测到的测试仪所处环境的温度高于高温阈值，或，当温度检测模块检测到的测试仪所处环境的温度低于低温阈值时，控制模块控制测试仪对应的温度调节模块将测试仪所处环境的温度调节到目标温度区间内，然后控制模块控制测试仪工作。

优选地，还包括与测试仪一一对应的提醒模块，提醒模块与控制模块连接，提醒模块用于发出温度适宜提醒。

优选地，所述控制模块，还用于：在控制模块控制控制模块控制测试仪对应的温度调节模块将测试仪所处环境的温度调节到目标温度区间内时，控制模块指令控制提醒模块工作。

优选地，所述各温度检测模块均安装在对应的测试仪的预设范围内，且各温度检测模块之间的温度检测范围不重叠。

优选地，所述各温度调节模块均安装在对应的测试仪的预设范围内，且各温度调节模块之间的温度调节范围不重叠。

本发明控制模块根据各温度检测模块的检测结果针对性的控制各温度调节模块工作，将测试仪所处环境的温度增加或降低到适宜测试仪工作的范围内，从而避免由于温度导致测试仪检测结果出现误差，即提高了测试仪的检测精度，同时，通过温度调节模块针对于每一个测试仪所处环境进行温度调节，节约了其他温度调节模块的工作成本，提高了温度调节的智能与自动化程度，从而降低了人工成本。

附图说明

图1为本发明提出的一种基于环境监测的多测试仪控制系统的模块示意图。

具体实施方式