[发明专利]具有改进的定时分辨率的读出电子设备

权利要求书

1.一种用于与正电子发射断层扫描PET成像系统中的光电检测器阵列接口连接的多信道专用集成电路ASIC，所述ASIC包括：

前端电路，其被配置成耦合到所述光电检测器阵列并且从所述光电检测器阵列接收多个离散模拟信号，其中，所述前端电路耦合到所述光电检测器阵列中的每个光电检测器的相应阴极；

时间鉴别电路，其包括低输入阻抗放大器，所述低输入阻抗放大器被配置成耦合到所述光电检测器阵列并且接收将来自所述光电检测器阵列的多个模拟信号求和的信号，并且所述时间鉴别电路被配置成基于所述求和的信号生成用于定时检出的命中信号；以及

能量电路，其可操作地耦合到所述前端电路并且被配置成基于所述模拟信号中的每个模拟信号来生成求和能量输出信号和求和位置输出信号，所述求和能量输出信号表示所述光电检测器阵列中检测到的辐射的能量水平，并且所述求和位置输出信号表示所述检测到的辐射在所述光电检测器阵列中的位置。

2.根据权利要求1所述的ASIC，其中，针对能量和位置信号的所述前端电路未耦合到所述时间鉴别电路。

3.根据权利要求1所述的ASIC，其中，所述低输入阻抗放大器具有大于200MHz的带宽。

4.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，所述前端电路被配置成电容耦合到所述光电检测器阵列中的每个光电检测器。

5.根据权利要求1所述的ASIC，其中，所述时间鉴别电路导电耦合到所述光电检测器阵列中的每个光电检测器。

6.根据权利要求5所述的ASIC，其特征在于，所述时间鉴别电路电导耦合到所述光电检测器阵列中的每个光电检测器的阳极侧。

7.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，所述低输入阻抗放大器包括共基极放大器或共栅极放大器。

8.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，位置信号根据所述光电检测器阵列中每个光电检测器的对应位置来结合可配置权数进行相加。

9.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，所述低输入阻抗放大器具有1欧姆或更小的输入阻抗。

10.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，所述前端电路包括小于3mW功率的至少一个低功率放大器。

11.根据权利要求1所述的ASIC，其特征在于，所述光电检测器阵列包括盖革模式雪崩光电二极管阵列。

12.一种与正电子发射断层扫描PET成像系统中的光电检测器阵列接口连接的方法，所述方法包括：

使用前端电路从所述光电检测器阵列中的每个光电检测器接收模拟信号，其中，所述前端电路耦合到所述光电检测器阵列中的每个光电检测器的相应阴极；

使用包括低输入阻抗放大器的时间鉴别电路基于将来自所述光电检测器阵列的所述模拟信号求和的信号来生成用于定时检出的命中信号，所述低输入阻抗放大器接收将所述模拟信号求和的信号；

使用可操作地耦合到所述前端电路的能量电路基于所述模拟信号中的每个模拟信号来生成求和能量输出信号，所述求和能量输出信号表示所述光电检测器阵列中检测到的辐射的能量水平；以及

使用所述能量电路基于所述模拟信号中的每个模拟信号来生成求和位置输出信号，所述位置输出信号表示所述检测到的辐射在所述光电检测器阵列中的位置。

13.根据权利要求12所述的方法，其中，针对能量和位置信号的所述前端电路未耦合到所述时间鉴别电路。

14.根据权利要求12所述的方法，其特征在于，所述低输入阻抗放大器具有大于200MHz的带宽。