[发明专利]多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法

权利要求书

1.多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，其特征是；该方法由以下过程实现：

低频晶振产生的时钟经时钟分路器进行分频，分频后分别产生串行图像数据频率为f_inter的CMOS串行时钟，时钟频率为f_sample的采样时钟以及参考频率为f_iodelay的参考时钟并送入成像控制器；

所述成像控制器将串行图像数据频率为f_inter的CMOS串行时钟送入多通道CMOS探测器，所述多通道CMOS探测器输出的多通道数据送入成像控制器进行串并转换，采用基于计数器的复选器进行不同采样区段的选择，实现输入串行图像数据的全范围采样；

多通道低频CMOS串行图像数据的最佳采样位置的确定方法分为几下三种情况：

一、当采样过程中数据跳变沿位置对应一个计数器位置时，设定稳定采样的两个临界点分别是第一个稳定采样的临界点(i,tap₁)和第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)，其中tap₁和tap₂为稳定采样的两个临界点时Iodelay对应的延迟值，i为计数器的计数值，且tap₂＞tap₁；则稳定采样眼宽度以tap数表示为：

(n-1)×tap_max+(tap_max-tap₂+tap₁)，tap_max为Iodelay的最大延迟值；n为大于1的正整数，为计数器的最大值；

则最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)的距离为：以第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)作为起始点，距离的位置表示为：第二个稳定采样的临界点+距离，则最终表示为(r,s)

最佳的采样位置为：

二、当采样过程中数据跳变沿位置对应两个计数器位置时；

设定稳定采样的两个临界点分别为第一个稳定采样的临界点(i-1,tap₁)和第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)，则稳定采样眼宽度为：(n-2)×tap_max+(tap_max-tap₂+tap₁)，最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)的距离为以第二个稳定采样的临界点(i,tap₂)作为起始点，距离的位置表示为：第二个稳定采样的临界点+距离，则最终表示为(r,s)

最佳的采样位置为：

三、当采样过程中数据跳变沿位置对应多于两个计数器位置时；

设定稳定采样的两个临界点分别为(i-1,tap₁)，(i+m,tap₂)，i-1和i+m为计数器的计数值；则稳定采样眼宽度为：(n-2-m)×tap_max+(tap_max-tap₂+tap₁)；

最佳的采样位置与第二个稳定采样的临界点(i+m,tap₂)的距离为以第二个稳定采样的临界点(i+m,tap₂)作为起始点，距离的位置表示为：第二个稳定采样的临界点+距离，即：则最终表示为(r,s)；

最佳的采样位置为：

2.根据权利要求1所述的多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，其特征在于，成像控制器内部单通道低频CMOS串行图像数据的处理流程为，串行数据经过参考频率为f_iodelay的Iodelay进行相位延时，然后采用时钟频率为f_sample的时钟基于Iserdes进行串并转换，最后基于计数器的复选器进行不同采样区段的选择，实现输入串行图像数据的全范围采样。

3.根据权利要求1所述的多通道低频CMOS串行图像数据的训练方法，其特征在于，多通道低频CMOS串行图像数据的时钟频率f_sample为串行图像数据频率f_inter的γ倍，且满足(γ-1)f_inter＜f_iodelay≤γf_inter，γ为大于1的正整数，且与n相等。