[发明专利]日光温室卷被定位方法及装置

权利要求书

1.一种日光温室卷被定位方法，其特征在于，包括：

获取温室横截面对应在预设坐标系中的若干个坐标点数据；

拟合所述坐标点数据，得到所述温室横截面的曲线函数；

根据预设角度传感器测量到的角度值和所述温室横截面的曲线函数，计算得到卷被在温室的位置。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述获取温室横截面对应在预设坐标系中的若干个坐标点数据前，所述方法还包括：

获取温室的长度数据和高度数据；

根据所述长度数据和所述高度数据建立所述预设坐标系。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取温室横截面对应在预设坐标系中的若干个坐标点数据具体包括：

根据温室横截面的特点与精度，将温室横截面对应在预设坐标系中的曲线进行分段；

获取每一段曲线中预设数量的坐标点数据。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述获取每一段曲线中预设数量的坐标点数据，具体包括：

对于每一段曲线，按照预设数量等间隔的获取所述曲线上的坐标点数据。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述根据预设角度传感器测量到的角度值和所述温室横截面曲线函数，计算得到卷被在温室顶部的位置前，所述方法还包括：

将所述角度传感器输出的模拟信号转换为数字信号；

根据所述数字信号，获取角度传感器测量的角度值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：

若预设角度传感器测量到的角度值大于预设阈值，重新进行日光温室卷被定位。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述根据预设角度传感器测量到的角度值和所述温室横截面的曲线函数，计算得到卷被在温室的位置，具体包括：

将所述温室横截面的曲线函数以极坐标系的函数表示，得到温室横截面的曲线函数对应的极坐标方程；

根据所述角度值和所述极坐标方程计算所述卷被的坐标值，得到卷被在温室的位置。

8.一种日光温室卷被定位装置，其特征在于，包括：

获取单元，用于获取温室横截面对应在预设坐标系中的若干个坐标点数据；

拟合单元，用于拟合所述坐标点数据，得到所述温室横截面的曲线函数；

定位单元，用于根据预设角度传感器测量到的角度值和所述温室横截面的曲线函数，计算得到卷被在温室的位置。

9.一种日光温室卷被定位设备，其特征在于，包括存储器和处理器，所述处理器和所述存储器通过总线完成相互间的通信；所述存储器存储有可被所述处理器执行的程序指令，所述处理器调用所述程序指令能够执行如权利要求1至7任一所述的方法。

10.一种非暂态计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至7任一项所述日光温室卷被定位方法的步骤。