[发明专利]模拟电网故障的电子设备测试方法和装置有效
申请号: | 201810662536.8 | 申请日: | 2018-06-25 |
公开(公告)号: | CN110632408B | 公开(公告)日: | 2022-07-05 |
发明(设计)人: | 黄晓波 | 申请(专利权)人: | 北京天诚同创电气有限公司 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G01R31/08 |
代理公司: | 北京市立方律师事务所 11330 | 代理人: | 张筱宁;宋海斌 |
地址: | 100176 北京市通州*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 模拟 电网 故障 电子设备 测试 方法 装置 | ||
1.一种模拟电网故障的电子设备测试方法,其特征在于,包括:
获取电网故障实验测试环境的测试参数集,所述测试参数集包括:测试温度、测试电压、测试电流、开关簇重复次数、簇内单脉冲参数及负载参数;所述簇内单脉冲参数包括簇内单脉冲的重复次数和簇内单脉冲的时间长度;所述簇内单脉冲参数通过下述方法确定:确定簇内单脉冲重复次数;基于所述簇内单脉冲重复次数、控制频率和开关器件在额定电流下的占空比确定簇内单脉冲时间长度;所述开关簇重复次数通过下述方法确定:根据电子设备从失控到受控所需要的控制时间、以及所述电子设备的控制频率,确定所述开关簇重复次数;对于设置在所述电网故障实验测试环境中的电子设备,根据所述测试参数集对所述电子设备进行测试;其中,所述电子设备包含开关器件;对所述电子设备进行测试包括:将所述实验测试环境的温度设定为所述测试温度,为被测试电子设备连接具有所述负载参数的负载单元,为被测试电子设备提供所述测试电压和测试电流,按照所述开关簇重复次数和簇内单脉冲参数控制所述测试电流的通断;
根据测试结果,确定所述电子设备的状态。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述测试温度包括:
根据所述电子设备单次开关的损耗、控制频率、并网额定电流、开关器件导通电阻、开关器件在额定电流下的占空比及开关器件到空气的热阻确定所述测试温度。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述测试电压包括:
根据所述电子设备的闭环控制带宽或开环剪切频率、闭环阻尼系数及稳态误差范围,确定所述电子设备从失控到受控所需要的控制时间;
根据所述电子设备的并网额定功率、处于电网故障状态时变流器制动电阻的消耗功率、变流器直流电容、所述控制时间及变流器额定直流电压,确定所述测试电压。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,获取所述测试电流包括:
根据电网故障时电压波动幅值、所述电子设备并网额定电流、并网等效电感及控制频率,确定所述测试电流。
5.根据权利要求3或4所述的方法,其特征在于,获取所述负载参数包括:
根据所述测试电流、所述测试电压及电子设备的控制频率,确定所述电子设备的负载电感;
根据确定的所述负载电感及所述控制频率,确定所述电子设备的负载阻抗。
6.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据测试结果,确定所述电子设备的状态,包括:
若所述测试结果为所述电子设备的状态正常,则确定所述电子设备的电网故障穿越性能测试通过;
若所述测试结果为所述电子设备的状态异常,则确定所述电子设备的电网故障穿越性能测试失败。
7.一种模拟电网故障的电子设备测试装置,其特征在于,包括:
参数设置单元,用于获取电网故障实验测试环境的测试参数集,所述实验测试参数集包括:测试温度、测试电压、测试电流、开关簇重复次数、簇内单脉冲参数及负载参数;所述簇内单脉冲参数包括簇内单脉冲的重复次数和簇内单脉冲的时间长度;所述簇内单脉冲参数通过下述方法确定:确定簇内单脉冲重复次数;基于所述簇内单脉冲重复次数、控制频率和开关器件在额定电流下的占空比确定簇内单脉冲时间长度;所述开关簇重复次数通过下述方法确定:根据电子设备从失控到受控所需要的控制时间、以及所述电子设备的控制频率,确定所述开关簇重复次数;
测试单元,对于设置在所述电网故障实验测试环境中的电子设备,根据所述测试参数集对所述电子设备进行测试;其中,所述电子设备包含开关器件;所述测试单元用于将所述实验测试环境的温度设定为所述测试温度,为被测试电子设备连接具有所述负载参数的负载单元,为被测试电子设备提供所述测试电压和测试电流,按照所述开关簇重复次数和簇内单脉冲参数控制所述测试电流的通断;
状态确定单元,用于根据测试结果,确定所述电子设备的状态。
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