[发明专利]多叉指静电保护器件有效

专利信息
申请号: 201810662973.X 申请日: 2018-06-25
公开(公告)号: CN108899315B 公开(公告)日: 2021-06-15
发明(设计)人: 陈卓俊;曾云;彭伟;金湘亮;吴志强;张云 申请(专利权)人: 湖南大学
主分类号: H01L27/02 分类号: H01L27/02
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 何世磊
地址: 410082 湖*** 国省代码: 湖南;43
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摘要:
搜索关键词: 多叉指 静电 保护 器件
【权利要求书】:

1.一种多叉指静电保护器件,其特征在于,包括衬底,所述衬底上设有深N阱,所述深N阱内设有第一P阱、第二P阱、第三P阱,所述第二P阱位于所述第一P阱和所述第三P阱的中间,所述第一P阱内从左到右依次设有第一P+注入区、第一N+注入区、第二N+注入区,所述第一P阱与所述第二P阱之间从左到右依次设有第二P+注入区、第三N+注入区、第三P+注入区,所述第二P阱内从左到右依次设有第四P+注入区、第四N+注入区、N+/P+掺杂注入区、第五N+注入区、第五P+注入区,所述第四P+注入区以及所述第五P+注入区均与所述深N阱跨接,所述N+/P+掺杂注入区内设有多个交替设置的N+注入区和P+注入区,所述第二P阱与所述第三P阱之间从左到右依次设有第六P+注入区、第六N+注入区、第七P+注入区,所述第三P阱内设有第七N+注入区、第八N+注入区、第八P+注入区,所述第一P+注入区、所述第一N+注入区、所述N+/P+掺杂注入区连接阴极,所述第二N+注入区、所述第二P+注入区、第三N+注入区、第三P+注入区、第四P+注入区、第四N+注入区连接阳极,所述多叉指静电保护器件以所述N+/P+掺杂注入区为对称中心对称设置,第一P+注入区与第一N+注入区邻接设置;第一N+注入区和第二N+注入区间隔设置,在第一N+注入区和第二N+注入区间之间的第一P阱上方设置有第一多晶硅栅、第一P阱与第二P+注入区之间设置有第一场氧区;第二P+注入区、第三N+注入区和第三P+注入区依次邻接设置;第三P+注入区与第四P+注入区之间设置有第二场氧区;第四P+注入区与第四N+注入区邻接设置;第四N+注入区和N+/P+掺杂注入区间隔设置,在第四N+注入区和N+/P+掺杂注入区之间的第二P阱上方设置有第二多晶硅栅;第一多晶硅栅和第二多晶硅栅连接阴极。

2.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述第一N+注入区与所述第二N+注入区之间设有第一薄栅氧化层,所述第一薄栅氧化层上覆盖有第一多晶硅栅。

3.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述第四N+注入区与所述N+/P+掺杂注入区之间设有第二薄栅氧化层,所述第二薄栅氧化层上覆盖有第二多晶硅栅,所述N+/P+掺杂注入区与所述第五N+注入区之间设有第三薄栅氧化层,所述第三薄栅氧化层上覆盖有第三多晶硅栅,所述第三多晶硅栅连接阴极。

4.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述深N阱内从左到右依次设有所述第一P阱、所述第二P阱、所述第三P阱。

5.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述衬底为P型硅衬底。

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