[发明专利]多叉指静电保护器件有效
申请号: | 201810662973.X | 申请日: | 2018-06-25 |
公开(公告)号: | CN108899315B | 公开(公告)日: | 2021-06-15 |
发明(设计)人: | 陈卓俊;曾云;彭伟;金湘亮;吴志强;张云 | 申请(专利权)人: | 湖南大学 |
主分类号: | H01L27/02 | 分类号: | H01L27/02 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 何世磊 |
地址: | 410082 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 多叉指 静电 保护 器件 | ||
1.一种多叉指静电保护器件,其特征在于,包括衬底,所述衬底上设有深N阱,所述深N阱内设有第一P阱、第二P阱、第三P阱,所述第二P阱位于所述第一P阱和所述第三P阱的中间,所述第一P阱内从左到右依次设有第一P+注入区、第一N+注入区、第二N+注入区,所述第一P阱与所述第二P阱之间从左到右依次设有第二P+注入区、第三N+注入区、第三P+注入区,所述第二P阱内从左到右依次设有第四P+注入区、第四N+注入区、N+/P+掺杂注入区、第五N+注入区、第五P+注入区,所述第四P+注入区以及所述第五P+注入区均与所述深N阱跨接,所述N+/P+掺杂注入区内设有多个交替设置的N+注入区和P+注入区,所述第二P阱与所述第三P阱之间从左到右依次设有第六P+注入区、第六N+注入区、第七P+注入区,所述第三P阱内设有第七N+注入区、第八N+注入区、第八P+注入区,所述第一P+注入区、所述第一N+注入区、所述N+/P+掺杂注入区连接阴极,所述第二N+注入区、所述第二P+注入区、第三N+注入区、第三P+注入区、第四P+注入区、第四N+注入区连接阳极,所述多叉指静电保护器件以所述N+/P+掺杂注入区为对称中心对称设置,第一P+注入区与第一N+注入区邻接设置;第一N+注入区和第二N+注入区间隔设置,在第一N+注入区和第二N+注入区间之间的第一P阱上方设置有第一多晶硅栅、第一P阱与第二P+注入区之间设置有第一场氧区;第二P+注入区、第三N+注入区和第三P+注入区依次邻接设置;第三P+注入区与第四P+注入区之间设置有第二场氧区;第四P+注入区与第四N+注入区邻接设置;第四N+注入区和N+/P+掺杂注入区间隔设置,在第四N+注入区和N+/P+掺杂注入区之间的第二P阱上方设置有第二多晶硅栅;第一多晶硅栅和第二多晶硅栅连接阴极。
2.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述第一N+注入区与所述第二N+注入区之间设有第一薄栅氧化层,所述第一薄栅氧化层上覆盖有第一多晶硅栅。
3.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述第四N+注入区与所述N+/P+掺杂注入区之间设有第二薄栅氧化层,所述第二薄栅氧化层上覆盖有第二多晶硅栅,所述N+/P+掺杂注入区与所述第五N+注入区之间设有第三薄栅氧化层,所述第三薄栅氧化层上覆盖有第三多晶硅栅,所述第三多晶硅栅连接阴极。
4.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述深N阱内从左到右依次设有所述第一P阱、所述第二P阱、所述第三P阱。
5.根据权利要求1所述的多叉指静电保护器件,其特征在于,所述衬底为P型硅衬底。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于湖南大学,未经湖南大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201810662973.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:静电保护器件
- 下一篇:一种显示面板及显示装置
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的