[发明专利]一种孔距检测装置

说明书

本发明公开了一种孔距检测装置，属于检测设备技术领域。它包括下尺、下副尺滑块机构、上尺、上副尺滑块机构、中心轴和设置有角度刻度的透明角度圆盘；下尺包括下矩形尺板，下矩形尺板的侧壁上沿下矩形尺板的长度方向设置有刻度，在下矩形尺板的顶面左端固接有下连柱，在下连柱的右侧面上由上至下间隔并列固接有两个与所述下矩形尺板平行的下尺卡条，两个下尺卡条之间形成下尺滑槽，在下连柱的左侧面上固接有下轴座。本发明功能多样，可实现同时检测三个孔之间的孔距、角度位置关系，以及测量孔与边线的距离等检测测量，无需其他检测装置配合，测量精确，定位精度高，特别针对多孔的检测，可大大减少检测次数，缩短检测时间，提高工作效率。

技术领域

本发明属于检测设备技术领域，具体涉及一种孔距检测装置。

背景技术

在机械零件的制造过程中，需要对零件上所加工的孔与孔之间的距离进行测量检测。现有的测量孔距装置，功能比较单一，只能检测固定距离的孔距，不能用于直接测量孔距；同一时间只能检测两个孔之间的距离，遇到开孔较多的零件时需逐一检测，测量次数多，花费时间长，大大降低效率；当需要测量孔之间的位置关系时，通常需要量角器等其他装置配合才能完整，工作繁琐；当测量零件两孔距较大时，小型的测量装置量程不足；当需要检测的孔径较小时候，不易进行两孔之间距离的测量。无法满足实际检测的需要。

发明内容

本发明为了解决现有的测量孔距装置，功能比较单一，只能检测固定距离的孔距，不能用于直接测量孔距；同一时间只能检测两个孔之间的距离，遇到开孔较多的零件时需逐一检测，测量次数多，花费时间长，大大降低效率；当需要测量孔之间的位置关系时，通常需要量角器等其他装置配合才能完整，工作繁琐；当测量零件两孔距较大时，小型的测量装置量程不足；当需要检测的孔径较小时候，不易进行两孔之间距离的测量。无法满足实际检测的需要的问题，而提供一种孔距检测装置。

为实现上述目的，本发明采用下述技术方案：一种孔距检测装置，它包括下尺、下副尺滑块机构、上尺、上副尺滑块机构、中心轴和设置有角度刻度的透明角度圆盘；所述下尺包括下矩形尺板，下矩形尺板的侧壁上沿下矩形尺板的长度方向设置有刻度，在下矩形尺板的顶面左端固接有下连柱，在下连柱的右侧面上由上至下间隔并列固接有两个与所述下矩形尺板平行的下尺卡条，两个下尺卡条之间形成下尺滑槽，在下连柱的左侧面上固接有下轴座；

所述下副尺滑块机构包括间隔并列设置的下副尺读数滑块与下副尺测量滑块，在下副尺读数滑块中部与下副尺测量滑块中部连接有下副尺肋板，使得下副尺滑块机构的截面呈哑铃形，进而在下副尺读数滑块与下副尺测量滑块之间、下副尺肋板的两侧各形成一个下副尺卡槽，在下副尺读数滑块侧壁上设置有下副尺刻度；

所述上尺包括上矩形尺板，上矩形尺板的侧壁上沿上矩形尺板的长度方向设置有刻度，在上矩形尺板的底面左端固接有上连柱，在上连柱的右侧面上由上至下间隔并列固接有两个与所述上矩形尺板平行的上尺卡条，两个上尺卡条之间形成上尺滑槽，在上连柱的左侧面上固接有上轴座；

所述上副尺滑块机构包括间隔并列设置的上副尺读数滑块与上副尺测量滑块，在上副尺读数滑块中部与上副尺测量滑块中部连接有上副尺肋板，使得上副尺滑块机构的截面呈哑铃形，进而在上副尺读数滑块与上副尺测量滑块之间、上副尺肋板的两侧各形成一个上副尺卡槽，在上副尺读数滑块侧壁上设置有上副尺刻度；

所述下尺与上尺对称设置，使得下尺卡条与上尺卡条相向，下副尺滑块机构中的下副尺肋板置于下尺滑槽内，下尺中的两个下尺卡条卡放至下副尺肋板两侧的下副尺卡槽内；上副尺滑块机构中的上副尺肋板置于上尺滑槽内，上尺中的两个上尺卡条卡放至上副尺肋板两侧的上副尺卡槽内；在下副尺测量滑块朝向上尺一侧的边沿固接有下半圆锥凸台，在上副尺测量滑块朝向下尺一侧的边沿固接有上半圆锥凸台，当下副尺测量滑块与上副尺测量滑块并拢时，下半圆锥凸台与上半圆锥凸台形成一个完整的圆锥凸台；所述中心轴依次穿过上轴座、下轴座和透明角度圆盘将上尺、下尺和透明角度圆盘进行连接。