[发明专利]一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法有效

专利信息
申请号: 201810671620.6 申请日: 2018-06-26
公开(公告)号: CN108490106B 公开(公告)日: 2020-01-21
发明(设计)人: 江明 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G01N30/86 分类号: G01N30/86
代理公司: 42201 华中科技大学专利中心 代理人: 夏云;夏惠忠
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 保留指数 全二维气相色谱 色谱条件 数学关系式 流出 温度数据 保留 分析化合物 已知化合物 正构烷烃 分析 标准品 混合液 二维 进样
【说明书】:

发明提供了一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法,具体步骤如下:(1)通过全二维气相色谱法分析含有数个(4个或4个以上)保留指数已知化合物的混合液,得到各个已知物质在该色谱条件下的二维保留时间以及流出温度数据;(2)将上述数据和标准品的保留指数数据代入本发明的提出的数学关系式,可得出所用色谱条件下第二维保留时间、第二维保留指数和流出温度的确切关系;(3)在相同色谱条件下分析待测的样品,获得待分析化合物的第二维保留时间和流出温度数据;(4)待分析物质的保留指数数据可通过数学关系式计算出来。与现有技术的方法相比,本发明提供的方法不需要反复多次的进样正构烷烃,方法简单易行。

技术领域

本发明属于化学分析领域,涉及全二维气相色谱法。

背景技术

在全二维气相色谱中,为了提高对未知物进行定性分析的准确性,常需测定未知物的第二维色谱保留指数。目前建立第二维色谱保留指数的方法主要有在第二维色谱柱反复进样正构烷烃法、使用阶梯柱温反复在第一维色谱柱处反复进样正构烷烃法以及使用等温色谱条件下多次进样正构烷烃的曲线拟合法。这些方法虽然可以建立全二维气相色谱中第二维色谱保留指数的测定方法,但是需要复杂的色谱条件和反复多次的注入正构烷烃,耗时费力,严重限制的全二维气相色谱中第二维色谱保留指数在未知物定性分析中的应用。因此迫切需要建立一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法。参考文献:(1)Bieri,S.;Marriott,P.J.Anal Chem 2006,78,8089-8097;(2)Bieri,S.;Marriott,P.J.Anal Chem 2008,80,760-768;(3)Jiang,M.;Kulsing,C.;Nolvachai,Y.;Marriott,P.J.Anal Chem 2015,87,5753-5761;(4)Prodhan,M.A.I.;Yin,X.;Kim,S.;McClain,C.;Zhang,X.J Chromatogr A 2018,1539,62-70。

发明内容

本发明的任务是提供一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法,以克服现有建立全二维气相色谱中第二维色谱保留指数的测定方法过程中需要复杂的色谱条件和需要反复多次注入正构烷烃的不足。

实现本发明的技术方案是:

本发明提供的全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法,包括以下步骤:

(1)测得4个或4个以上的保留指数值已知的化合物在全二维气相色谱所用分析条件下的流出温度、第二维保留时间数据;所述的4个或4个以上的保留指数值已知的化合物可以使用但不局限于以下物质或者它们的组合:1)MegaMix A混合物(Restek公司);2)grobmix(Restek公司)与正构醇类化合物的混合物;3)正构烷烃和正构醇类化合物的混合物;4)grobmix(Restek公司)与正构烷烃的混合物;5)待分析样品中已知的物质。

(2)将步骤(1)所测得的流出温度、第二维保留时间数据和所述已知物质的第二维保留指数值,代入下述式1中,拟合常数a、b、c和d,即得到在步骤(1)所述的全二维气相色谱所用分析条件下的第二维保留时间、第二维保留指数和流出温度的确切关系式;拟合系数可以使用Excel的Solver插件;

log(log(2tR))=[a(2I/100)+b]In(2T)+[c(2I/100)+d]

式1

式1中,a、b、c和d为常数,2tR为第二维保留时间,2I为化合物的第二维保留指数;2T为化合物流出第二维色谱柱时的柱温(以下简称流出温度)。

(3)由下列方法A或方法B计算出待分析化合物的第二维保留数:

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