[发明专利]一种测量一维材料复极化率的装置及方法

权利要求书

1.一种测量一维材料复极化率的方法，其中，测量所述一维材料复极化率的装置包括：光源、第一偏振片、1/4波片、第一保偏镜头、被测一维材料样品、第二保偏镜头、第二偏振片和光谱仪；所述方法包括如下步骤：

1)在第一保偏镜头和第二保偏镜头的焦点处，放置被测一维材料样品，被测一维材料样品的轴向为竖直方向，再旋转两块偏振片的偏振方向使两块偏振片的光轴完全垂直，两块偏振片的光轴相对于竖直方向分别为+π/4和-π/4，其中，第一保偏镜头的焦点和第二保偏镜头的焦点位于同一位置；

2)旋转1/4波片使其快轴方向与第一偏振片的光轴方向有一个夹角θ，入射光经1/4波片后变为左旋椭圆偏光，其中夹角θ的弧度为0-π/4；

3)光在经过被测一维材料样品后其中一部分散射形成散射信号，另一部分形成透射信号，散射信号与透射信号干涉之后形成干涉信号，干涉信号被所述第二保偏镜头收集，再经过第二偏振片后，被光谱仪探测；之后将样品移出焦点，使透射光被所述第二保偏镜头收集，再经过第二偏振片后，被光谱仪探测；最终处理后得到左旋信号其中，E_L为透射的左旋光振幅，E_s为散射光振幅；

4)旋转1/4波片使其快轴方向与第二偏振片的光轴方向有一个夹角θ，入射光经1/4波片后变为右旋椭圆偏光，其中夹角θ的弧度为与步骤2)中的夹角θ相同；

5)光在经过被测一维材料样品后其中一部分散射形成散射信号，另一部分形成透射信号，散射信号与透射信号干涉之后形成干涉信号，被所述第二保偏镜头收集，再经过第二偏振片后，被光谱仪探测；之后将样品移出焦点，使透射光被所述第二保偏镜头收集，再经过第二偏振片后，被光谱仪探测；最终处理后得到，得到右旋信号其中，E_R为透射的右旋光振幅，E_S为散射光振幅；

6)结合步骤3)所述左旋信号和步骤5)中所述右旋信号，代入如下公式：

其中，χ₁、χ₂分别为样品的极化率的实部和虚部，β是探测系数，最终分别得到样品的极化率的实部和虚部。

2.根据权利要求1所述的方法，光源发出的光依次经过第一偏振片、1/4波片、第一保偏镜头、被测一维材料样品、第二保偏镜头、第二偏振片，最终被光谱仪接收。

3.根据权利要求1-2任一项所述的方法，其特征在于，被测一维材料样品位于第一保偏镜头和第二保偏镜头的焦点处，第一保偏镜头的焦点和第二保偏镜头的焦点位于同一位置。