[发明专利]自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备

说明书

本发明公开一种自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。自动测试设备包括背板和多个测试板卡，该方法包括基于以下第一至第三触发方式中的一种或几种的组合进行自动测试设备的触发：第一触发方式：背板向各测试板卡发送下触发信号，各测试板卡向背板发送上触发信号；第二触发方式：背板同时向所有测试板卡发送同步触发信号；第三触发方式：以初始状态为高电平的状态总线连接背板和所有测试板卡，背板和所有测试板卡均能将状态总线拉低为低电平且所有测试板卡均以状态总线被拉低为低电平作为触发信号。该自动测试设备可灵活便捷地实现事件控制及同步，具有较强的灵活性和可拓展性。

技术领域

本发明涉及测试技术领域。更具体地，涉及一种自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。

背景技术

在测试领域中，对于芯片等器件的测试，通常采用自动测试设备(ATE，AutomaticTest Equipment)实现，现有的自动测试设备的触发方式(ATE trigger)，包括背板与插接在背板卡槽上的测试板卡之间的触发以及不同自动测试设备的背板之间的触发这两种触发方式，现有的两种触发方式较单一，应用方式有限，不够灵活便捷，对后续应用升级和扩展较困难，只能够满足基本的自动测试设备事件控制。

因此，需要提供一种灵活便捷的自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。

发明内容

本发明的目的在于提供一种灵活便捷的自动测试设备的触发实现方法及自动测试设备。

为达到上述目的，本发明采用下述技术方案：

本发明第一方面提供了一种自动测试设备的触发实现方法，所述自动测试设备包括背板和多个测试板卡，该方法包括基于以下第一至第三触发方式中的一种或几种的组合进行自动测试设备的触发：

第一触发方式：所述背板向各测试板卡发送下触发信号，所述各测试板卡向背板发送上触发信号；

第二触发方式：所述背板同时向所有测试板卡发送同步触发信号；

第三触发方式：以初始状态为高电平的状态总线连接所述背板和所有测试板卡，所述背板和所有测试板卡均能将所述状态总线拉低为低电平且所有测试板卡均以所述状态总线被拉低为低电平作为触发信号。

优选地，该方法还包括基于以下第四触发方式及其与第一至第三触发方式中的一种或几种的组合进行自动测试设备的触发：

第四触发方式：所述背板向其他自动测试设备的背板发送下触发信号，所述其他自动测试设备的背板向所述背板发送上触发信号。

优选地，所述第一触发方式还包括：所述背板向测试板卡转发上触发信号。

优选地，所述第三触发方式还包括：以多条初始状态为高电平的分组状态总线分别连接所述背板和所有测试板卡，将各测试板卡分为多个分组，每一分组对应一分组状态总线，所述背板和各分组内的测试板卡均能将对应的分组状态总线拉低为低电平且各分组内的测试板卡均以对应的分组状态总线被拉低为低电平作为触发信号。

优选地，所述同步触发信号为脉冲信号。

优选地，所有测试板卡均设有时钟芯片，所有测试板卡的时钟芯片之间的时钟相位同步基于所述第一触发方式与第二触发方式的组合实现。

优选地，实现所有测试板卡的时钟芯片之间的时钟相位同步包括：

背板通过双向数据线分别向所有测试板卡发送包含收到同步触发信号后释放时钟芯片复位端的下触发信号；

背板通过同步数据线同时向所有测试板卡发送同步触发信号；

所有测试板卡收到同步触发信号后同时释放时钟芯片的复位端，根据设定的时钟频率对时钟芯片进行寄存器配置并将寄存器配置值写入时钟芯片缓存；