[发明专利]一种氮化镓横向MIS-肖特基混合阳极二极管有效

专利信息
申请号: 201810678927.9 申请日: 2018-06-27
公开(公告)号: CN108831932B 公开(公告)日: 2021-07-02
发明(设计)人: 陈万军;李茂林;施宜军;崔兴涛;信亚杰;李佳;刘超;周琦;张波 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/872 分类号: H01L29/872;H01L29/207;H01L29/205
代理公司: 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 代理人: 孙一峰
地址: 611731 四川省*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 横向 mis 肖特基 混合 阳极 二极管
【权利要求书】:

1.一种氮化镓横向MIS-肖特基混合阳极二极管,包括从下至上依次层叠设置的衬底(1)、GaN层(2)和AlGaN层(3);所述AlGaN层(3)的Al摩尔组分从AlGaN层(3)底部到顶部逐渐增大,AlGaN层(3)与GaN层(2)形成异质结;在器件上层两端还分别具有阴极结构和MIS-肖特基混合阳极结构;所述阴极结构为在异质结上层形成欧姆接触的第一金属(6);所述MIS-肖特基混合阳极结构包括金属-绝缘层-半导体结构和肖特基结构,所述肖特基结构为在异质结上层形成肖特基接触的第二金属(7),所述金属-绝缘层-半导体结构包括一个刻蚀部分AlGaN层(3)的凹槽,凹槽底部和侧面覆盖一层绝缘介质(5),绝缘介质(5)上方覆盖金属电极(8),该金属电极(8)与第二金属(7)之间进行电气连接,两者之间保持相同电位;在所述AlGaN层(3)上表面淀积SiN层(4)形成钝化层;在所述钝化层上生长有绝缘介质(5),部分绝缘介质(5)沿SiN层(4)和金属电极(8)之间的侧面延伸至AlGaN层(3)上表面构成MIS结构的绝缘层;AlGaN层(3)中Al、Ga、N的组分分别为x、1-x、1,从AlGaN层(3)底部到顶部Al组分x由0到0.5渐变。

2.根据权利要求1所述的氮化镓横向MIS-肖特基混合阳极二极管,其特征在于,AlGaN层(3)的厚度为5nm到12nm。

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