[发明专利]用于校准感应式定位传感器的方法以及定位传感器在审
申请号: | 201810679159.9 | 申请日: | 2018-06-27 |
公开(公告)号: | CN109143403A | 公开(公告)日: | 2019-01-04 |
发明(设计)人: | M.哈尔;K.伦茨 | 申请(专利权)人: | 罗伯特·博世有限公司 |
主分类号: | G01V13/00 | 分类号: | G01V13/00;G01V3/10 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 宣力伟;李雪莹 |
地址: | 德国斯*** | 国省代码: | 德国;DE |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 绕组系统 校准 定位传感器 发射线圈 印制导线 感应式 断开 电路板 接收线圈 铣削 平衡 | ||
1.一种用于校准具有至少一个发射线圈(116)和至少一个接收绕组系统(118)的感应式定位传感器的方法,所述发射线圈和所述接收绕组系统呈印制导线(128)的形式被构造在所述感应式定位传感器的电路板(126a)上,其中通过断开所述接收绕组系统(118)的至少一个校准绕组系统(130)来平衡在所述接收绕组系统(118)的接收线圈(112、114)中所感应的电压U,其特征在于,所述至少一个校准绕组系统(130)在方法步骤218中借助于所述至少一个校准绕组系统(130)的印制导线(128)的机械的铣削来断开。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在所述校准绕组系统(130)的印制导线(128)的机械的铣削的方法步骤218之前的方法步骤204中,所需的铣削深度通过被设置在所述电路板(126a)上的测试结构(132)的机械的铣削来获取。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述测试结构(132)通过电路实现,其中,所述测试结构(132)在用于获取所需的铣削深度的方法步骤204的执行期间借助于评估电路运行。
4.根据权利要求2至3中任一项所述的方法,其特征在于,在用于获取所需的铣削深度的所述方法步骤204之前的方法步骤202中,铣削工具被定位到所述测试结构(132)的位置上。
5.根据权利要求2至3中任一项所述的方法,其特征在于,在用于获取所需的铣削深度的方法步骤204期间,首先设定最小的铣削深度并且随后迭代地提高所述铣削深度直至达到所需的铣削深度。
6.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,当借助于所述评估电路在所述测试结构(132)上检测到电压变化和/或电流变化时,在执行用于获取所需的铣削深度的方法步骤204过程中达到所需的铣削深度。
7.根据权利要求2至3中任一项所述的方法,其特征在于,在所述校准绕组系统(130)的印制导线的机械的铣削的方法步骤中,首先铣削工具被定位在所述校准绕组系统(130)的待铣削的印制导线(128)的位置(P1-P8)上并且随后所述印制导线(128)被铣削直至所需的铣削深度。
8.一种用于定位金属的物体的定位传感器,其具有至少一个发射线圈(116)和至少一个接收绕组系统(118),所述发射线圈和所述接收绕组系统以感应的方式相互耦联并且呈印制导线(128)的形式被设计在所述定位传感器的电路板(126a)上,其特征在于所述接收绕组系统(118)的至少一个校准绕组系统(130),用于平衡在所述接收绕组系统(118)的接收线圈(112、114)中所感应的电压U,其中,所述至少一个校准绕组系统(130)由于所述至少一个校准绕组系统(130)的印制导线(128)的机械的铣削在关于所述接收绕组系统(118)的有效的匝数的方面和/或在关于所述接收绕组系统(118)的所形成的面的方面和/或在关于所述接收绕组系统(118)的几何形状的方面被平衡。
9.根据权利要求8所述的定位传感器,其特征在于,所述定位传感器包括至少一个呈电路的形式的测试结构(132)。
10.根据权利要求8至9任一项所述的定位传感器,其特征在于,所述至少一个发射线圈(116)和所述接收线圈(112、114)被作为印刷线圈构造在所述电路板(126a)上。
11.根据权利要求8所述的定位传感器,其特征在于,所述至少一个校准绕组系统(130)由于所述至少一个校准绕组系统(130)的印制导线(128)的机械的铣削在关于所述接收绕组系统(118)的有效的匝数的方面和/或在关于所述接收绕组系统(118)的所形成的面的方面和/或在关于所述接收绕组系统(118)的几何形状的方面被校准。
12.根据权利要求10所述的定位传感器,其特征在于,所述至少一个发射线圈(116)和所述接收线圈(112、114)作为被布置在相互平行的、高度偏置的平面中的印刷线圈而被构造在所述电路板(126a)上。
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