[发明专利]一种集成试压装置在审
申请号: | 201810679356.0 | 申请日: | 2018-06-27 |
公开(公告)号: | CN110646144A | 公开(公告)日: | 2020-01-03 |
发明(设计)人: | 徐敏 | 申请(专利权)人: | 徐敏 |
主分类号: | G01M3/04 | 分类号: | G01M3/04 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 225000 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 传感器外壳 孔位 气仓 底座 硅胶密封垫 顶部设置 多孔底板 锁紧螺杆 装置主体 上盖板 泄露 密封圈 顶部表面 对称分布 紧固螺栓 使用寿命 试压装置 锁紧螺母 压紧孔 贯穿 检测 底端 套接 外端 环绕 | ||
本发明公开了一种集成试压装置,包括装置主体,装置主体的底部设置有底座气仓,底座气仓的底端外侧固定安装有若干环绕均匀分布的紧固螺栓,底座气仓的顶部设置有密封圈,多孔底板的顶部表面开有若干第一孔位,多孔底板的顶部设置有硅胶密封垫,硅胶密封垫的四角分别设置有锁紧螺杆,上盖板的贯穿开有第二孔位,第一孔位和第二孔位之间安装有传感器外壳,上盖板的边侧贯穿开有四个对称分布的压紧孔,锁紧螺杆的外端套接有锁紧螺母。本发明通过对传感器外壳进行检测,可以杜绝传感器外壳在使用过程中出现泄露,同时能有效的防止传感器外壳泄露后产生的后果,使检测过的传感器外壳使用寿命更为长久。
技术领域
本发明涉及一种测试装置,特别涉及一种集成试压装置。
背景技术
众所周知,常规情况下传感器外壳都是整体车加工后,基本没有去进行试压测试,经常有仪器仪表的传感器外壳在现场发生泄漏事故,不仅会导致仪器仪表的损坏,还会引发危险事故的发生,导致现场人员、设备等的重大损失。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的缺陷,提供一种集成试压装置,可做到对传感器外壳进行检测。
为了解决上述技术问题,本发明提供了如下的技术方案:
本发明一种集成试压装置,包括装置主体,所述装置主体的底部设置有底座气仓,所述底座气仓的底端外侧固定安装有若干环绕均匀分布的紧固螺栓,所述底座气仓的顶部设置有密封圈,所述密封圈的顶部设置有多孔底板,所述多孔底板的顶部表面开有若干第一孔位,所述多孔底板的顶部设置有硅胶密封垫,所述硅胶密封垫的四角分别设置有锁紧螺杆,且锁紧螺杆分别贯穿密封圈和多孔底板,所述硅胶密封垫的顶部设置有上盖板,所述上盖板的贯穿开有第二孔位,所述第一孔位和第二孔位之间安装有传感器外壳,所述上盖板的边侧贯穿开有四个对称分布的压紧孔,且锁紧螺杆贯穿压紧孔,所述锁紧螺杆的外端套接有锁紧螺母。
作为本发明的一种优选技术方案,所述第一孔位和第二孔位通过传感器外壳相连接。
作为本发明的一种优选技术方案,所述密封圈通过锁紧螺杆分别和底座气仓、多孔底板固定连接。
作为本发明的一种优选技术方案,所述上盖板和多孔底板通过锁紧螺杆相连接。
作为本发明的一种优选技术方案,所述锁紧螺杆和传感器外壳通过上盖板相连接。
与现有技术相比,本发明的有益效果如下:
本发明通过对传感器外壳进行检测,可以杜绝传感器外壳在使用过程中出现泄露,同时能有效的防止传感器外壳泄露后产生的后果,使检测过的传感器外壳使用寿命更为长久。
附图说明
附图用来提供对本发明的进一步理解,并且构成说明书的一部分,与本发明的实施例一起用于解释本发明,并不构成对本发明的限制。在附图中:
图1是本发明的整体结构示意图;
图2是本发明的局部结构示意图之一;
图3是本发明的局部结构示意图之二;
图中:1、装置主体;2、底座气仓;3、紧固螺栓;4、密封圈;5、多孔底板;6、第一孔位;7、硅胶密封垫;8、锁紧螺杆;9、上盖板;10、第二孔位;11、传感器外壳;12、压紧孔;13、锁紧螺母。
具体实施方式
以下结合附图对本发明的优选实施例进行说明,应当理解,此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本发明,并不用于限定本发明。
其中附图中相同的标号全部指的是相同的部件。
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