[发明专利]高分子涂层中重金属元素的测定方法

说明书

本发明涉及检测领域，公开了一种高分子材料涂层中重金属元素的测定方法，其特征在于，包括如下步骤：a.取初始质量若干克基体涂层样品放入容器内；b.向容器内加入稀硫酸与纯水的体积比为3~8：2~7的稀硫酸溶液，该稀硫酸溶液将所述基体镀层样品完全浸没时开始计时，不断轻微振荡或浸取若干分钟使镀层溶于稀硫酸溶液中从而与基体分离；c.立即将所述基体镀层样品从所述稀硫酸溶液中分离出来，用纯水多次清洗基体上的残余稀硫酸溶液，合并多次清洗的溶液，用水定容到一定的体积后以待测定；d.把洗净的基体放到烘箱中恒温一段时间，取出冷却到室温后转入干燥器中恒温干燥一段时间；e.称量基体的质量，该基体的质量与基体镀层样品初始质量之差即为稀硫酸溶液溶解下的镀层质量，计算出镀层的质量即为重金属元素的质量。

技术领域

本发明专利涉及检测领域，具体涉及一种高分子材料涂层中重金属元素的测定方法。

背景技术

目前，电子电器产品的金属或塑料原件或产品，一般都有高分子材料涂层，使之具有防潮、防锈、防腐、易清洁、美观大方的效果。而有些高分子材料涂层中的金属属于对人体健康不利的危害物质，因此，各个国家颁布了限制该等危害物质的法规和指令如欧盟的ROHS指令以及美国的CPSIA法规等，那么就需要将涂层与基体分离后进行单独的分析测试。由于涂层的基底材料及涂层的分类多，涂层的附着性能及涂层厚度差异很大，一般的测定涂层中重金属时都采用手刮的方法，如申请号201010607630.7所述的油漆涂层重金属元素的测定方法。

然而，上述手刮的方法常常工作效率低下且有时会难以刮掉或混入基体，这造成了测定精确度的降低。因此，迫切需要一种能使高分子材料涂层最大限度地被溶出且基体最大限度地被保留的高分子材料涂层测定方法。

发明内容

本发明提供一种能使高分子材料涂层最大限度地被溶出且基体最大限度地被保留的高分子材料涂层中重金属元素的测定方法。

为实现上述目的，本发明提供一种高分子材料涂层中重金属元素的测定方法，包括：

步骤一，取初始质量若干克基体镀层样品放入容器内；

步骤二，向容器内加入稀硫酸与纯水的体积比为3~8：2~7的稀硫酸溶液，该稀硫酸溶液将所述基体镀层样品完全浸没时开始计时，不断轻微振荡或浸取若干分钟使镀层溶于稀硫酸溶液中从而与基体分离；

步骤三，立即将所述基体镀层样品从所述稀硫酸溶液中分离出来，用纯水多次清洗基体上的残余稀硫酸溶液，合并多次清洗的溶液，用水定容到一定的体积后以待测定；

步骤四，把洗净的基体放到烘箱中恒温一段时间，取出冷却到室温后转入干燥器中恒温干燥一段时间；

步骤五，称量基体的质量，该基体的质量与基体镀层样品初始质量之差即为稀硫酸溶液溶解下的镀层质量，计算出镀层的质量即为重金属元素的质量。

所述基体镀层为铁基镀层时，所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为8：2，不断轻微振荡的时间为2分钟。

所述基体镀层为铜基镀镍层时：所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为1：1，不断轻微振荡的时间为1分钟。

所述基体镀层为锌合金基镀层时：所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为1：1，不断轻微振荡的时间为1~2分钟。

所述基体镀层为铜基镀镍层扣时：所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为3：7，不断轻微振荡的时间为2分钟。

所述基体镀层为铜基皮带扣镀层时：所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为3：7，浸取时间为6分钟。

所述基体镀层为铜基带孔、带空隙小圆扣镀层时：所述步骤二中加入的稀硫酸溶液中稀硫酸与纯水的体积比为3：7，不断轻微振荡的时间为3分钟。