[发明专利]一种非易失性内存的预警方法及相关装置

说明书

本发明公开了一种非易失性内存的预警方法，由于温度值是非易失性内存的一个重要的参数，若非易失性内存的温度过高，该内存就容易发生故障，从而使得需要被保护的内存丢失。根据温度值可以判断出非易失性内存是否发生异常，进而可以判断出非易失性能内存是否还在生命周期中。当非易失性内存持续异常时，意味着该内存已经度过了生命周期，此时需要对用户进行报警。本发明还提供了一种非易失性内存的预警装置、设备以及计算机可读存储介质，同样具有上述有益效果。

技术领域

本发明涉及计算机技术领域，特别是涉及一种非易失性内存的预警方法、装置、设备以及计算机可读存储介质。

背景技术

随着近年来科技不断的进步，非易失性内存的应用也越来越广泛。在存储设备中，一个关键的问题时掉电时数据的保护处理。而非易失性内存可以保证当系统断电时，需要保存的数据不会丢失。

但是在现阶段，非易失性内存作为一种物理器件，也存在生命周期。在生命周期中，非易失性内存可以保证数据的安全性，但是在生命周期之外，非易失性内存可能会发生故障，从而使得需要被保护的数据丢失。所以如何准确的预测非易失性内存的生命周期是本领域技术人员急需解决的问题。

发明内容

本发明的目的是提供一种非易失性内存的预警方法，可以当非易失性内存不处于生命周期中时进行告警；本发明的另一目的在于提供一种非易失性内存的预警装置、设备以及计算机可读存储介质，可以当非易失性内存不处于生命周期中时进行告警。

为解决上述技术问题，本发明提供一种非易失性内存的预警方法，所述方法包括：

根据预设的采样周期获取非易失性内存中多个温度值；

判断多个所述温度值是否符合预设的条件；

若否，则将所述非易失性内存中记录的当前的温度值修改为标准温度值；

若是，则进行告警。

可选的，所述采样周期具体为：

每5S获取一次所述非易失性内存当前的温度值。

可选的，所述判断多个所述温度值是否符合预设的条件包括：

计算连续预设数量的所述温度值中，大于温度阈值的温度值的个数；

判断所述大于温度阈值的温度值的个数是否大于预设个数；

若是，则符合所述预设的条件；

若否，则不符合所述预设的条件。

可选的，所述判断多个所述温度值是否符合预设的条件包括：

计算相邻两个所述温度值的差值；

计算连续预设数量的所述差值中，大于温度差阈值的差值的个数；

判断所述大于温度差阈值的差值的个数是否大于预设个数；

若是，则符合所述预设的条件；

若否，则不符合所述预设的条件。

本发明还提供了一种非易失性内存的预警装置，所述装置包括：

采集模块：用于根据预设的采样周期获取非易失性内存中多个温度值；

判断模块：用于判断多个所述温度值是否符合预设的条件；

修改模块：用于当所述判断模块的判断结果为否时，将所述非易失性内存中记录的当前的温度值修改为标准温度值；

告警模块：用于当所述判断模块的判断结果为是时，进行告警。

可选的，所述采集模块具体用于：