[发明专利]一种触控基板、其检测方法及触控显示面板、显示装置

权利要求书

1.一种触控基板，包括衬底基板，位于所述衬底基板上垂直交叉且相互绝缘的激励信号线和感测信号线；其特征在于，还包括：

位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处，以及偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的激励电极和感测电极；其中，

所述激励电极与所述感测电极一一对应；

所述感测电极具有镂空区域，且所述感测电极的镂空区域在所述衬底基板上的正投影覆盖对应的所述激励电极在所述衬底基板上的正投影；

所述触控基板弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，和位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积不同；

所述感测电极的形状为长方形；位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的长，在行方向的长度等于所述长方形的宽；位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极在列方向的长度等于所述长方形的宽，在行方向的长度等于所述长方形的长。

2.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述触控基板沿与行方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，大于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积；

所述触控基板沿与列方向夹角为[0°，45°)的直线弯曲时，位于奇数行所述激励信号线与奇数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积，小于位于偶数行所述激励信号线与偶数列所述感测信号线的交叉位置处的所述感测电极与对应的所述激励电极的正对面积。

3.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述激励电极与所述激励信号线同层设置，所述感测电极与所述感测信号线同层设置。

4.如权利要求1所述的触控基板，其特征在于，所述激励电极、所述激励信号线和所述感测电极同层设置。

5.如权利要求1-4任一项所述的触控基板，其特征在于，还包括：检测芯片，用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；并用于在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。

6.一种触控显示面板，其特征在于，包括如权利要求1-5任一项所述的触控基板。

7.一种显示装置，其特征在于，包括如权利要求6所述的触控显示面板。

8.一种如权利要求1-4任一项所述的触控基板的检测方法，其特征在于，包括：

经激励信号线逐行向激励电极加载激励信号；

接收经感测信号线反馈的与所述激励电极一一对应的感测电极的感测信号；

在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号不同时，确定所述触控基板发生弯曲；或在检测到相邻行或相邻列的所述感测电极的感测信号相同时，确定所述触控基板发生触控。