[发明专利]精密测角传感器及其测量方法

权利要求书

1.一种精密测角传感器，其特征在于，包括：

激光束一、激光束二，且所述激光束一与激光束二入射至反射部件的入射位置不同；

所述反射部件，所述反射部件用于固定被测物体，所述反射部件可旋转并且沿周向设有若干个反射面，每个所述反射面用于将所述激光束一、激光束二进行反射；

分光镜一，用于将所述反射部件的反射面反射的激光束一分为激光束三与激光束四；

分光镜二，用于将所述反射部件的反射面反射的激光束二分为激光束五与激光束六；

光电探测器一，用于接收经分光镜一反射的激光束三，并显示其入射位置；

光电探测器二，用于接收经分光镜一透射出的激光束四，并显示其入射位置；

光电探测器三，用于接收经分光镜二反射的激光束五，并显示其入射位置；

光电探测器四，用于接收经分光镜二透射出的激光束六，并显示其入射位置；

处理系统，用于根据光电探测器一探测到的激光束三入射位置的变化量及光电探测器二探测到的激光束四入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值；和/或，根据光电探测器三探测到的激光束五入射位置的变化量及光电探测器四探测到的激光束六入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值。

2.根据权利要求1所述的精密测角传感器，其特征在于，所述反射部件上的全部所述反射面形状大小相同。

3.根据权利要求2所述的精密测角传感器，其特征在于，所述反射部件为正多边形立柱，所述正多边形立柱的每个侧面为所述反射面。

4.根据权利要求1所述的精密测角传感器，其特征在于，所述光电探测器一与光电探测器二分别位于分光镜一的两侧，且光电探测器一、光电探测器二与分光镜一相互平行设置。

5.根据权利要求1所述的精密测角传感器，其特征在于，所述光电探测器三与光电探测器四分别位于分光镜二的两侧，且光电探测器三、光电探测器四与分光镜二相互平行设置。

6.根据权利要求1-5任一所述的精密测角传感器，其特征在于，所述激光束一、激光束二分别通过激光器一和激光器二发射得到该激光束。

7.根据权利要求1-6任一所述的精密测角传感器的测量方法，其特征在于，包括以下步骤：

步骤一：将所述反射部件固定在被测物体上；

步骤二：调整激光束一、激光束二、反射部件、分光镜一、分光镜二、光电探测器一、光电探测器二、光电探测器三、光电探测器四的位置关系，使得激光束一、激光束二分别经所述反射部件的反射面反射后能够分别被所述分光镜一与分光镜二分为激光束三、激光束四、激光束五、激光束六，激光束三被光电探测器一探测到，激光束四被光电探测器二探测到，激光束五被光电探测器三探测到，激光束六被光电探测器四探测到，所述光电探测器一、光电探测器二、光电探测器三、光电探测器四与处理系统通信连接；

步骤三：发射激光束一、激光束二，所述光电探测器一检测到分光镜一反射的激光束三的初始位置，光电探测器二检测到分光镜一透射的激光束四的初始位置；和/或，光电探测器三检测到分光镜二反射的激光束五的初始位置，光电探测器四检测到分光镜二透射的激光束六的初始位置；

步骤四：被测物体旋转，在旋转过程中，所述光电探测器一、光电探测器二、光电探测器三、光电探测器四分别检测到所述激光束三、激光束四、激光束五、激光束六在各自探测器上入射位置的变化，直到被测物体旋转停止；

步骤五：处理系统根据光电探测器一探测到的激光束三入射位置的变化量及光电探测器二探测到的激光束四入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值；和/或，根据光电探测器三探测到的激光束五入射位置的变化量及光电探测器四探测到的激光束六入射位置的变化量，处理得到所述反射部件上被测物体的旋转角度值。