[发明专利]一种基于自电容技术的真实两点检测算法在审
申请号: | 201810693480.2 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN108694005A | 公开(公告)日: | 2018-10-23 |
发明(设计)人: | 刘华;贾朝辉 | 申请(专利权)人: | 上海海栎创微电子有限公司 |
主分类号: | G06F3/044 | 分类号: | G06F3/044;G06F3/0354 |
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地址: | 201210 上海市浦东新区丹桂*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 感应器 差值矩阵 扫描检测 算法 触摸 自电容检测 差值信息 电容技术 检测结果 两点检测 扫描波形 扫描电容 扫描结果 特征电容 相邻电容 相邻感应 耦合电容 点位置 电容 记录 两组 分辨 输出 | ||
1.一种基于自电容技术的真实两点检测算法,首先针对由X轴Y轴电容感应器构成的传统电容感应矩阵建立无触摸特征电容差值矩阵C[1:M][1:N],记录下每一个感应器与其相邻感应器之间的无触摸差值信息,其建立无触摸特征电容差值矩阵的方法是:依次将Y1、Y2,…,YN与X1的输出扫描信号连接在一起并确保此时无触摸,得到X1的N个扫描电容结果R[1][1:N],将Y1、Y2,…,YN同时连接到VSS并再次扫描X1得到结果R[1][0],C[1][1]=R[1][0]-R[1][1],C[1][2]=R[1][0]-R[1][2],…,C[1][N]=R[1][0]-R[1][N],重复直至所有X轴感应器扫描完并建立好无触摸电容特征差值矩阵C[1:M][1:N];当检测到有两组X和Y轴的数据后,如(Xa, Xb), (Yn, Ym),算法将做判断扫描:Yn与Xa输出同样的扫描波形,此时Yn仅仅输出扫描电压波形并不进行实际电容扫描检测,而Xa则进行正常电容扫描检测,记录下Xa的判断扫描电容检测结果Can并计算出其与之前Xa的扫描结果之间差值;如果在Yn有触摸,其新的差值将会小于特征差值矩阵中的结果;如果在Yn没有触摸,那么其差值则会与特征差值矩阵接近,这样就可以排除鬼点,从而得到真实两点的坐标。
2.根据权利要求1所述的算法,其算法步骤的特征在于:
1)建立无触摸电容特征差值矩阵C[1:M][1:N],这一矩阵用于判断X轴/Y轴交叉点上是有触摸还是无触摸;
2)使用传统的自电容扫描方法得到电容扫描结果R[1:M];
3)如果有两个触摸点同时发生,那么电容扫描结果将会发现四个电容感应器被触摸,例如(Xa, Xb), (Yn, Ym)四个电容感应器;
4)做判断扫描使Yn与Xa输出同样的扫描波形,此时Yn仅仅输出扫描电压波形并不进行实际电容扫描检测,而Xa则进行正常电容扫描检测,记录下Xa的判断扫描电容检测结果Can并计算出其与之前Xa的扫描结果之间差值 C=R[a]-Can;
5)比较差值C与步骤1)中得到的C[a][n]的大小,如果C小,则Xa与Yn的交叉点上有触摸,反之则无。
3.根据权利要求1所述的算法,建立无触摸电容特征差值矩阵C[1:M][1:N],其特征在于:
1)依次将Y轴电容感应器Y1,Y2,…,YN与X1的输出扫描信号连接在一起并确保此时无触摸,得到X1的N个扫描电容结果R[1][1:N];
2)将Y轴电容感应器Y1,Y2,…,YN同时连接到VSS并再次扫描X1得到结果R[1][0],
则X1的无触摸电容特征差值矩阵为:C[1][1]=R[1][0]-R[1][1],C[1][2]=R[1][0]-R[1][2],…,C[1][N]=R[1][0]-R[1][N];
3)重复直至所有X轴感应器扫描完并建立好无触摸电容特征差值矩阵C[1:M][1:N]。
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