[发明专利]多单元信号控制系统在审

专利信息
申请号: 201810693806.1 申请日: 2018-06-29
公开(公告)号: CN108663976A 公开(公告)日: 2018-10-16
发明(设计)人: 赵浩华;吴强;王恒斌;孙伯乐 申请(专利权)人: 常州同惠电子股份有限公司
主分类号: G05B19/042 分类号: G05B19/042;G01R31/14
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 213000 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试单元 主控模块 时钟信号发生器 信号控制系统 测试要求 多单元 测试信号频率 同步时钟信号 测试 并行测试 测试参数 测试区域 测试信号 单元安装 单元高压 节省空间 控制频率 实际电压 外部控制 相位漂移 高压线 可控 发送 保证 输出 节约
【说明书】:

发明涉及一种多单元信号控制系统,包括主控模块、时钟信号发生器以及至少一个与主控模块相连的测试单元;所述的时钟信号发生器发送同步时钟信号至每个测试单元;所述的主控模块控制每个测试单元的启动时间。本发明将多个单元安装与一个机箱内,让多个单元根据需要同步或异步工作,达到多元件并行测试,大大加快测试速度,节约外部控制,节省空间;各单元的测试信号频率一致,能控制频率差引起的相位漂移,保证测试区域高压线间电压和测试参数的稳定;测试信号相位可控,能保证各单元高压输出端的实际电压满足测试要求,使测试的结果达到测试要求。

技术领域

本发明涉及电子测量技术领域,尤其是一种输出信号频率、相位可控的多单元信号控制系统。

背景技术

一般产品测试时,LCR类参数测试都是每秒完成几个的。而耐电压测试一般需要几秒一个,甚至几十秒一个产品。为了实现流水线自动化测试,用户往往用多台耐电压测试仪同时进行测试来满足测试速度要求。现有技术中,为了节约外部控制,节省空间以及测试成本,会通过一个主控电路控制多个单元形成一个整体,实现多个功能模块协同工作。但是该系统在多单元协同工作时无法对各测试单元间测试信号的频率、相位根据实际测试需要进行调整。

发明内容

本发明要解决的技术问题是:提供一种多单元信号控制系统,能够实现多个单元协同工作,并且多单元协同工作时需要每个单元之间测试信号的频率以及相位可控。

本发明解决其技术问题所采用的技术方案是:一种多单元信号控制系统,包括主控模块、时钟信号发生器以及至少一个与主控模块相连的测试单元;所述的时钟信号发生器发送同步时钟信号至每个测试单元;所述的主控模块控制每个测试单元的启动时间。

进一步的说,本发明所述的测试单元包括分频器、波形发生器、信号放大及输出控制器;所述的分频器的输入端分别连接时钟信号发生器和主控模块;分频器的输出端连接波形发生器的输入端;所述的波形发生器的输出端连接信号放大及输出控制器的输入端;所述的主控模块控制波形发生器的启动与停止。

再进一步的说,本发明所述的主控模块对分频器进行频率控制;同步时钟信号通过分频器产生和基频成N倍的基频基准时钟信号,控制波形发生器的输出波形的频率。

再进一步的说,本发明所述的主控模块发送相位控制信号至波形发生器,控制波形发生器的输出波形的起始时间。

再进一步的说,本发明所述的波形发生器包括数字波形表以及DAC转换器;基频基准时钟信号产生信号波形并扫描数字波形表,通过DAC转换器转换形成输出波形。

再进一步的说,本发明所述的波形发生器每次启动的起始状态相同。

本发明的有益效果是,解决了背景技术中存在的缺陷,将多个单元安装与一个机箱内,让多个单元根据需要同步或异步工作,达到多元件并行测试,大大加快测试速度,节约外部控制,节省空间;各单元的测试信号频率一致,能控制频率差引起的相位漂移,保证测试区域高压线间电压和测试参数的稳定;测试信号相位可控,能保证各单元高压输出端的实际电压满足测试要求,使测试的结果达到测试要求。

附图说明

图1是本发明的系统结构原理框图;

图2是本发明4个测试单元的输出波形图。

具体实施方式

现在结合附图和优选实施例对本发明作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图,仅以示意方式说明本发明的基本结构,因此其仅显示与本发明有关的构成。

如图1所示的一种多单元信号控制系统,包括主控模块、时钟信号发生器以及多个与主控模块相连的测试单元;基准时钟发送同步时钟至每个测试单元;每个测试单元的结构一致;测试单元包括分频器、波形发生器、信号放大及输出控制器。

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