[发明专利]检验TFT-CELL亮点的方法

说明书

本发明提供一种检验TFT‑CELL亮点的方法，TFT显示面板在未绑定IC之前对亮点进行检出，通过对驱动TFT面板波形进行调整，包括如下驱动波形调整步骤：(1)正常的帧频率是60HZ驱动，现降频到10HZ时；(2)通过对液晶面板进行充电1帧，STV信号进行启动，同时RGB信号加上电充电；(3)再进行慢放电5帧，RGB信号相对应改变电压，对液晶面板进行放电，在帧频率10HZ情况下，TFT显示面板上的亮点会闪烁，人眼更容易检测到，本发明的有益效果在于：通过不断调试验证，驱动帧频率设定在10HZ左右是最佳的参数，TFT显示面板上的亮点会闪烁，人眼更容易检测到。

【技术领域】

本发明涉及一种TFT-CELL亮点的方法，尤其涉及一种检验TFT-CELL亮点的方法。

【背景技术】

CELL治具正常驱动点亮TFT面板，一些不良亮点是不可见，还有一些亮点是静止亮点的，人眼不易检测到。

【发明内容】

本发明目的在于解决CELL治具正常驱动点亮TFT面板，一些不良亮点是不可见，还有一些亮点是静止亮点的，人眼不易检测到的不足而提供的一种新型检验TFT-CELL亮点的方法。

本发明是通过以下技术方案来实现的：一种检验TFT-CELL亮点的方法，TFT显示面板在未绑定IC之前对亮点进行检出，通过对驱动TFT面板波形进行调整，包括如下驱动波形调整步骤：

(1)正常的帧频率是60HZ驱动，现降频到10HZ时；

(2)通过对液晶面板进行充电1帧，STV信号进行启动，同时RGB信号加上电充电；

(3)再进行慢放电5帧，RGB信号相对应改变电压，对液晶面板进行放电，在帧频率10HZ情况下，TFT显示面板上的亮点会闪烁，人眼更容易检测到。

本发明的有益效果在于：通过不断调试验证，驱动帧频率设定在10HZ左右是最佳的参数，TFT显示面板上的亮点会闪烁，人眼更容易检测到。

【附图说明】

图1为本发明检验TFT-CELL亮点的方法的TN(正常白)模式波形示意图；

图2为本发明检验TFT-CELL亮点的方法的TFT IPS(正常黑)模式波形模式波形示意图；

【具体实施方式】

下面结合附图及具体实施方式对本发明做进一步描述：

如图1、图2所示，一种检验TFT-CELL亮点的方法，TFT显示面板在未绑定IC之前对亮点进行检出，通过对驱动TFT面板波形进行调整，包括如下驱动波形调整步骤：

(1)正常的帧频率是60HZ驱动，现降频到10HZ时；

(2)通过对液晶面板进行充电1帧，STV信号进行启动，同时RGB信号加上电充电；

(3)再进行慢放电5帧，RGB信号相对应改变电压，对液晶面板进行放电，在帧频率10HZ情况下，TFT显示面板上的亮点会闪烁，人眼更容易检测到。

根据上述说明书的揭示和教导，本发明所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行适当的变更和修改。因此，本发明并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对本发明的一些修改和变更也应当落入本发明的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本发明构成任何限制。