[发明专利]一种LCD粗糙斑缺陷检测方法有效
申请号: | 201810696331.1 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN108830851B | 公开(公告)日: | 2020-08-28 |
发明(设计)人: | 路建伟;姚毅;赵严;马增婷 | 申请(专利权)人: | 凌云光技术集团有限责任公司 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00;G06T7/10;G06T7/40 |
代理公司: | 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 | 代理人: | 逯长明;许伟群 |
地址: | 100094 北京市海淀*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 lcd 粗糙 缺陷 检测 方法 | ||
1.一种LCD粗糙斑缺陷检测方法,其特征在于,所述方法包括以下步骤:
建立训练模型,采用训练模型对图像进行训练,获得模型参数;
所述建立训练模型,采用训练模型对图像进行训练,获得模型参数包括:建立高斯混合模型;循环处理训练图像;迭代调用最大期望算法进行计算,直到满足终止条件;获取模型参数;
所述循环处理训练图像包括:获取训练图像;对训练图像采取对比敏感度函数滤波处理;提取纹理特征;将纹理特征参数加入模型;判断是否遍历完训练图像,若已遍历完,则循环处理结束;若未遍历完,则继续获取训练图像;
利用训练好的模型对图像进行检测识别,获取测试结果;
根据测试结果是否满足条件,判断产品属于良品还是不良品。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述建立高斯混合模型的概率分布模型如下:
其中ak是系数,φ(y|θk)是高斯分布密度,θk为第k个参数集;
称为第k个分模型,其中μk为第k个分模型中的均值,σk为第k个分模型中的方差。
3.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述迭代调用最大期望算法进行计算,直到满足终止条件包括:
通过最大期望算法对高斯混合模型参数进行估计,计算后验概率值;
更新参数,计算误差;
若计算结果满足终止条件,则迭代结束;若计算结果不满足终止条件,则重新进行最大期望算法计算。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用训练好的模型对图像进行检测识别,获取测试结果包括:
对待测图像进行对比敏感度函数滤波处理;
提取纹理特征;
采用训练后的模型,对待测图像中的灰度集合进行聚类、分割;
对分割结果进行二次分析处理,得到测试结果。
5.根据权利要求1或4所述的方法,其特征在于,所述对比敏感度函数滤波处理包括:
采用傅里叶变换将图像转换到频域;
构建带通滤波器,并进行频域滤波;
将滤波后的图像经傅里叶反变换到空域。
6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述对分割结果进行二次分析处理,得到测试结果包括:
采用Blob分析法去除分割结果中的小目标干扰;
对去除小目标干扰后的图像进行形态学闭运算;
采用Blob分析法再次选择目标,作为测试结果。
7.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述根据测试结果是否满足条件,判断产品属于良品还是不良品包括:
判断测试结果中目标的面积是否满足不良品条件,若不满足条件,则判断为良品;若满足条件,则进行下一步;
判断测试结果中目标的长宽是否满足不良品条件,若不满足条件,则判断为良品;若满足条件,则进行下一步;
判断测试结果中目标的对比度是否满足不良品条件,若不满足条件,则判断为良品;若满足条件,则判断为不良品。
8.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述采用训练后的模型,对待测图像中的灰度集合进行聚类、分割包括:
初始化高斯混合模型中的参数;
通过最大期望算法对高斯混合模型中的参数进行估计,迭代计算后验概率的值及更新参数,直到误差满足终止条件为止;
利用最大后验概率准则对像素进行分配;
输出图像分割结果。
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