[发明专利]一种显示面板及弯折区域弯折程度的检测方法

权利要求书

1.一种显示面板，其特征在于，包括：

弯折区域和非弯折区域；

至少部分设置在弯折区域的n个变形检测单元，所述变形检测单元沿所述显示面板的弯折方向呈一字型分布，所述n为不小于2的正整数，所述变形检测单元用于输出与所述变形检测单元所在位置处的弯折区域的形变量相匹配的输出信号；

所述变形检测单元，包括：

第一条形半导体、第二条形半导体、第一电阻元件和第二电阻元件；第一检测线、第二检测线、第一信号线和第二信号线；

所述第一条形半导体的第二端与所述第二电阻元件的第一端连接；

所述第二电阻元件的第二端与所述第二条形半导体第一端连接；

所述第二条形半导体的第二端与所述第一电阻元件的第一端连接；

所述第一电阻元件的第二端与所述第一条形半导体的第一端连接；

所述第一检测线与所述第一条形半导体的第二端连接；

所述第二检测线与所述第二条形半导体的第二端连接；

所述第一信号线与所述第一条形半导体的第一端连接；

所述第二信号线与所述第二条形半导体的第一端连接；

其中，所述第一条形半导体和第二条形半导体的等效阻值跟随自身弯曲度变化而变化，所述第一电阻元件和第二电阻元件的阻值不跟随所述弯折区域的形变量发生变化；

所述第一电阻元件和第二电阻元件为条形半导体，所述第一条形半导体、第二条形半导体、第一电阻元件和第二电阻元件全部设置在所述弯折区域；

构成所述第一电阻元件和第二电阻元件的条形半导体为波浪型结构，所述波浪型结构的峰谷方向垂直于所述显示面板的弯折方向。

2.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一条形半导体与第二条形半导体结构相同，所述第一电阻元件和第二电阻元件结构相同；

当所述第一条形半导体、第二条形半导体未发生形变时，所述第一条形半导体、第二条形半导体、第一电阻元件和第二电阻元件的阻值相同；

所述第一条形半导体的阻值、第二条形半导体的阻值、第一电阻元件的阻值和第二电阻元件的阻值跟随温度的变化量相同。

3.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述n个变形检测单元沿所述显示面板的弯折方向等间距分布。

4.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述显示面板包括多个引脚；

所述第一信号线接入第一电压；

所述第二信号线接入第二电压；

所述第一检测线和所述第二检测线与所述引脚电连接。

5.根据权利要求1所述的显示面板，所述显示面板包括栅极线、数据线、发光器件和发光晶体管；其特征在于，所述发光晶体管的有源层与所述第一条形半导体、第二条形半导体位于同一层且为同种材料。

6.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一条形半导体和第二条形半导体的长度小于(1/4)*πd，其中，所述d为所述弯折区域的最小曲率半径。

7.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一条形半导体和第二条形半导体结构相同，所述第一条形半导体和第二条形半导体的面积大于构成所述第一电阻元件和第二电阻元件的条形半导体，所述第一条形半导体材和第二条形半导体的长边所在方向平行于所述显示面板的弯折方向。

8.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，构成所述第一电阻元件和第二电阻元件的条形半导体结构相同，且所述构成所述第一电阻元件和第二电阻元件的条形半导体在所述显示面板的弯折方向上的宽度小于设定值，所述设定值的大小满足规则：所述第一电阻元件和第二电阻元件在跟随所述显示面板发生形变时，所述第一电阻元件和第二电阻元件的阻值变化量不大于自身阻值的百分之一。

9.根据权利要求1所述的显示面板，其特征在于，所述第一电阻元件和第二电阻元件为长条形结构，所述第一电阻元件和第二电阻元件的长边所在方向垂直于所述显示面板的弯折方向。

10.一种弯折区域弯折程度的检测方法，用于如权利要求1-9任一项所述的显示面板，其特征在于，方法包括：

获取所述n个变形 检测单元的输出信号以及每个变形 检测单元的输出信号对应的地址标识；

获取与每个变形 检测单元的输出信号相对应的亮度补偿数据；

获取与所述输出信号的地址标识所对应的显示面板的显示区域；

依据所述亮度补偿数据对亮度补偿数据对应的显示区域进行亮度补偿。