[发明专利]一种液晶设备检测方法在审
| 申请号： | 201810707912.0 | 申请日： | 2018-07-02 |
| 公开（公告）号： | CN108663835A | 公开（公告）日： | 2018-10-16 |
| 发明（设计）人： | 范其云 | 申请（专利权）人： | 江阴澄云机械有限公司 |
| 主分类号： | G02F1/13 | 分类号： | G02F1/13 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 214400 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 缺陷位置 显示面板 检查装置 液晶设备 离子 聚焦离子束 同一生产线 剥离缺陷 检修装置 形态缺陷 修复装置 修理装置 检查 检测 切割 剥离 修复 观察 | ||
1.一种液晶设备检测方法，其特征在于，包括：检查显示面板是否具有缺陷位置；在通过检查获取显示面板的缺陷位置之后，使用由第一离子检查装置产生的第一聚焦离子束来切割显示面板的缺陷位置，以在缺陷位置剥离缺陷并观察形态缺陷；和在缺陷被剥离之后使用修复装置对缺陷位置执行修复处理；其中，用于检查缺陷位置的检查装置，第一离子检修装置和修理装置以该顺序依次安装在同一生产线上。
2.根据权利要求1所述的一种液晶设备检测方法，其特征在于：其中，检查装置是光学检查机，光学检查机使用光学照相机扫描整个显示面板进行图像捕获，并将捕获图像的数据与存储在数据库中的合格参数进行比较。SE的光学检测机，以确定显示面板的缺陷位置，并观察缺陷的形态。
3.根据权利要求1所述的一种液晶设备检测方法，其特征在于：其中，检查装置是第二离子检修装置，第二离子检修装置产生的第二聚焦离子束用于扫描显示面板进行成像，以确定显示面板和传感器的缺陷位置的缺陷的形态。
4.根据权利要求1所述的一种液晶设备检测方法，其特征在于：在缺陷位置上的缺陷的剥离过程中，同时使用扫描电子显微镜观察被剥离的缺陷位置，以判断剥离的结果是否满足后续的修复要求的实时性。
5.根据权利要求4所述的一种液晶设备检测方法，其特征在于：其中，在使用该修复装置在缺陷被剥离后对缺陷位置进行修复处理的过程中，使用扫描电子显微镜观察正在修复的缺陷位置，以监测该过程，并对显示面板的缺陷位置进行实时修复处理。
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