[发明专利]一种GPIO口的检测方法

说明书

本发明提供了一种GPIO口的检测方法，包括：将GPIO口设置为输出高电平模式，第一设定时间后将GPIO口设置成高阻输入模式，检测GPIO口的电平，得到第一电平；将GPIO口设置为输出低电平模式，第一设定时间后将GPIO口设置成高阻输入模式，检测GPIO口的电平，得到第二电平；根据两次的检测结果得到GPIO口的识别状态。本发明提供的GPIO口的检测方法，GPIO口不需要连接其他的装置，只需改变GPIO口的输出/输入模式，检测CPU的引脚的电平，并根据检测结果得到GPIO口的识别状态，检测方式简单，能快速的得到检测结果，另外，该种检测方法利用的是GPIO口的特性，并不需要输入额外的电压，避免了GPIO口因电压过大，导致GPIO口被烧坏的情况发生，从而提高了检测的安全性。

技术领域

本发明涉及电子设备的口线识别领域，具体而言，涉及一种GPIO口的检测方法。

背景技术

本发明对于背景技术的描述属于与本发明相关的相关技术，仅仅是用于说明和便于理解本发明的发明内容，不应理解为申请人明确认为或推定申请人认为是本发明在首次提出申请的申请日的现有技术。

现在电子产品研发阶段及产品升级过程中，硬件电路改动比较多，经常出现各种版本的硬件调试板混杂的现象，导致软件工程师无法识别硬件版本，不方便生产及管理，且容易出差错。因此，常常通过口线的高低两种状态，来判断不同模块的版本配置。如某个GPIO口线显示高“1”时，代表彩屏液晶屏；显示低“0”时，代表黑白屏液晶，不同的版本配置用于系统加载不同的液晶驱动。但是现有检测GPIO口线的方式比较复杂，不易操作。

发明内容

本发明提供了一种GPIO口的检测方法，包括：

将所述GPIO口设置为输出高电平模式，第一设定时间后将所述GPIO口设置成高阻输入模式，检测所述GPIO口的电平，得到第一电平；

将所述GPIO口设置为输出低电平模式，第一设定时间后将所述GPIO口设置成高阻输入模式，检测所述GPIO口的电平，得到第二电平；

根据两次的检测结果得到所述GPIO口的识别状态。

优选地，根据两次的检测结果得到所述GPIO口的识别状态包括：

当所述第一电平和所述第二电平均为高电平时，得到所述GPIO口为上拉状态。

优选地，根据两次的检测结果得到所述GPIO口的识别状态包括：

当所述第一电平和所述第二电平均为低电平时，得到所述GPIO口为下拉状态。

优选地，根据两次的检测结果得到所述GPIO口的识别状态包括：

当所述第一电平为高电平、所述第二电平为低电平时，得到所述GPIO口为悬空状态。

优选地，所述输出高电平模式为推挽输出高电平模式；所述输出低电平模式为推挽输出低电平模式。

优选地，所述第一设定时间为1～100毫秒。

优选地，所述第一设定时间为5毫秒。

优选地，第一设定时间后将所述GPIO口设置成高阻输入模式，保持第二设定时间后，检测所述GPIO口的电平。

优选地，所述第二设定时间为1～100毫秒。

优选地，所述第二设定时间为5毫秒。