[发明专利]一种核电站主回路冷却剂放射性活度监测方法和系统在审
申请号: | 201810711542.8 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN109003688A | 公开(公告)日: | 2018-12-14 |
发明(设计)人: | 陈小强;熊军;肖明;唐邵华;潘跃龙;王鑫;杨彬华 | 申请(专利权)人: | 中广核工程有限公司;中国广核集团有限公司;中国广核电力股份有限公司 |
主分类号: | G21C17/022 | 分类号: | G21C17/022 |
代理公司: | 深圳市顺天达专利商标代理有限公司 44217 | 代理人: | 蔡晓红;柯夏荷 |
地址: | 518023 广东省深圳市大*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 冷却剂 主回路 放射性活度 闪烁探测器 射线探测器 符合电路 射线 核电站 核电厂 半导体探测器 康普顿散射 能谱分析器 测量分析 工作负荷 监测效率 能谱测量 中低能 监测 活度 取样 计算机 替代 分析 | ||
1.一种核电站主回路冷却剂放射性活度监测系统,其特征在于,包括:
γ射线探测器,设置在核电站主回路上,用于采集主回路冷却剂中放射性核素释放的γ射线信号;
能谱分析器,与γ射线探测器连接,用于分析γ射线探测器获取到的γ射线信号,并计算出相应核素的放射性活度数据;
计算机,与能谱分析器连接,用于当获取的放射性活度数据超出预设阀值条件时,发出相应的高放射性预警。
2.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述γ射线探测器包括:
一端设有开口的外壳、设置在外壳一端且包覆核电站主回路待测点和外壳一端开口的第一屏蔽体、插装在外壳一端开口中的准直器、设置在外壳内且与准直器的一端连接的半导体探测器、设置在外壳内且套装在半导体探测器上的闪烁探测器、设置在外壳内且套装闪烁探测器上的第二屏蔽体、以及用于通过比较闪烁探测器和半导体探测器发送的测量信号来排除半导体探测器在测量时受到的干扰信号的符合电路,符合电路分别与半导体探测器和闪烁探测器电连接。
3.根据权利要求2所述的系统,其特征在于,所述半导体探测器为P型HPGe探测器,所述闪烁探测器为CsI探测器。
4.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述预设阀值条件包括:
当∑(gas)>1.48E+12Bq/m3或131I(EQ)>1.85E+10Bq/m3时,触发工作站的警报,
其中,∑(gas)=133Xe+135Xe+138Xe+85mKr+85Kr+87Kr+88Kr;
131I(EQ)=-131I+132I/30+133I/4+134I/50+135I/10。
5.根据权利要求1所述的系统,其特征在于,所述计算机,还用于存储获取到的核素活度数据,并将获取到的核素活度数据,制备成相应的24小时内的变化趋势曲线。
6.一种核电站主回路冷却剂放射性活度监测方法,其特征在于,所述方法包括:
采用预设在核电站主回路上的γ射线探测器,测量主回路冷却剂中放射性核素释放的γ射线信号,并计算出相应核素的放射性活度数据;
当放射性活度数据超出预设阀值条件时,发出相应的高放射性预警。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述γ射线探测器包括:
一端设有开口的外壳、设置在外壳一端且包覆核电站主回路待测点和外壳一端开口的第一屏蔽体、插装在外壳一端开口中的准直器、设置在外壳内且与准直器的一端连接的半导体探测器、设置在外壳内且套装在半导体探测器上的闪烁探测器、设置在外壳内且套装闪烁探测器上的第二屏蔽体、以及用于通过比较闪烁探测器和半导体探测器发送的测量信号来排除半导体探测器在测量时受到的干扰信号的符合电路,符合电路分别与半导体探测器和闪烁探测器电连接。
8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,所述半导体探测器为P型HPGe探测器,所述闪烁探测器为CsI探测器。
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