[发明专利]一种高能量利用率低功耗的堆叠SRAM阵列结构有效
申请号: | 201810713172.1 | 申请日: | 2018-06-29 |
公开(公告)号: | CN108962309B | 公开(公告)日: | 2021-12-28 |
发明(设计)人: | 范世全;董军;赵洋;张芮;苟伟;耿莉 | 申请(专利权)人: | 西安交通大学 |
主分类号: | G11C11/4074 | 分类号: | G11C11/4074 |
代理公司: | 西安通大专利代理有限责任公司 61200 | 代理人: | 徐文权 |
地址: | 710049 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 高能量 利用率 功耗 堆叠 sram 阵列 结构 | ||
1.一种高能量利用率低功耗的堆叠SRAM阵列结构,其特征在于,由N层SRAM电路堆叠而成,第i层SRAM电路的高电压为第i层SRAM电路的低电压为N大于等于1,i及N均为正整数;
各层SRAM电路均包括电平转换模块(1)、译码器模块(2)、逻辑控制模块(3)、SRAM阵列(4)及灵敏放大器(5),其中,电平转换模块(1)的输出端与译码器模块(2)的输入端及逻辑控制模块(3)的输入端相连接,译码器模块(2)的输出端及逻辑控制模块(3)的输出端与SRAM阵列(4)的输入端相连接,SRAM阵列(4)的输出端与灵敏放大器(5)的输入端相连接;
通过电平转换模块(1)将输入的电压范围变换为该电平转换模块(1)所在层SRAM电路对应的电压范围;
逻辑控制模块(3)的输入为写使能信号及全局时钟信号,通过逻辑控制模块(3)产生读取使能信号;
灵敏放大器(5)的输入为参考电压及输入数据,通过灵敏放大器(5)检测全局位线上的电压差,并将检测得到的电压差放大至全摆幅,从而驱动局部位线翻转,以实现数据的读取。
2.根据权利要求1所述的高能量利用率低功耗的堆叠SRAM阵列结构,其特征在于,SRAM阵列(4)由若干SRAM单元组成。
3.根据权利要求1所述的高能量利用率低功耗的堆叠SRAM阵列结构,其特征在于,电平转换模块(1)由两个反相器构成。
4.根据权利要求1所述的高能量利用率低功耗的堆叠SRAM阵列结构,其特征在于,各灵敏放大器(5)高压端的电压均为VDD,各灵敏放大器(5)的低压端均接地。
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