[发明专利]配电系统中内部电弧防护方法、装置及包括其的电气柜有效
申请号: | 201810714841.7 | 申请日: | 2018-07-03 |
公开(公告)号: | CN109390901B | 公开(公告)日: | 2023-03-24 |
发明(设计)人: | M.里瓦尔 | 申请(专利权)人: | 施耐德电器工业公司 |
主分类号: | H02H3/00 | 分类号: | H02H3/00;H02H3/16;H02H1/00;G01R31/52;G01R31/12 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人: | 陈钘 |
地址: | 法国吕埃*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 配电 系统 内部 电弧 防护 方法 装置 包括 电气 | ||
1.一种配电系统中的内部电弧故障的防护方法,包括以下步骤:
检测在配电系统内包括在300至430nm范围内的任何光束,并且在存在该光束的情况下,产生指示系统内存在内部电弧的信号;
基于前述信号分析前述光束的特征,如果这些特征符合表征内部电弧故障的所需条件,则发送内部电弧故障信号,由此,
在存在内部电弧故障时,减弱其在配电系统中的影响,
其特征在于,所述配电系统容纳一组母线,所述一组母线向主断路器供应电力,并且在下游电连接到至少一个低压断路器,并且在于,在前述检测步骤和前述分析步骤之间,该光束的可见部分和红外部分被去除,这些部分可能由中断短路电流的低压断路器的出口所发出的离子化气体产生,使得在存在内部电弧故障的情况下,或者防护装置检测到内部电弧故障,并且该故障将通过由主断路器执行的断开而被消除,或者故障是短路故障,由于该光束的可见部分和红外部分被去除,所述短路故障将不会被内部电弧检测器检测到,但是将被位于内部电弧检测器下游的至少一个低压断路器消除。
2.根据权利要求1所述的防护方法,其特征在于,在前述的检测步骤和前述的分析步骤之间,阻挡光束的具有完全高于430nm的频率的所有光波。
3.根据权利要求1或2所述的防护方法,其特征在于,前述分析步骤包括测量光束的强度的步骤。
4.一种配电系统中的内部电弧故障的防护装置,包括:
光检测器(1),放置在前述配电系统内部,能够检测包括在该系统内的在300至430nm范围内的光束,并且能够产生指示该系统内的内部电弧的信号;
处理器件,联接到光检测器(1),并且配置为基于前述信号分析该光束,并且配置为如果满足内部电弧故障的条件,则产生指示内部电弧故障的信号;和
电气防护器件(3),配置为接收电弧故障信号,以减弱配电系统中的电弧,
其特征在于,光检测器(1)能够去除该光束的可见部分和红外部分,并且在存在该光束的除了可见部分或红外部分之外的称为该光束的剩余部分的部分时能够产生指示存在传播通过系统的内部电弧的信号,并且特征在于,前述处理器件配置为基于前述信号分析该光束的除了可见或红外部分之外的该部分,并且配置成如果符合内部电弧故障的条件则产生指示内部电弧故障的信号,
并且其中,所述防护装置能够执行根据权利要求1-3中任一项所述的防护方法。
5.根据权利要求4所述的防护装置,其特征在于,前述处理器件包括用于测量所述光束的该剩余部分的强度的器件。
6.根据权利要求4或5所述的防护装置,其特征在于,该光检测器(1)包括至少一个光学传感器或至少一根光纤。
7.根据权利要求6所述的防护装置,其特征在于,每个光学传感器包括至少一个光电二极管和/或至少一个光电晶体管,每个光电二极管或光电晶体管设置有低通滤波器,其阻挡具有高于450nm的波长的那些光束。
8.根据权利要求6所述的防护装置,其特征在于,每个光学传感器包括至少一个光电二极管和/或至少一个光电晶体管,每个光电二极管或光电晶体管设置有允许具有380nm至420nm的波长的光束通过的带通滤波器。
9.根据权利要求6所述的防护装置,其特征在于,每根光纤是透紫外线光纤,并且与允许具有380nm至420nm的波长的光束通过的带通滤波器或阻挡高于450nm的波长的低通光学滤波器相关联。
10.一种配电系统,其特征在于,其包括根据权利要求4-9中任一项所述的防护装置。
11.一种配电系统,包括一组母线J,根据权利要求4-9中任一项所述的防护装置P,和电气防护器件(3),该电气防护器件(3)旨在减弱系统内的潜在的内部电弧故障的影响。
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