[发明专利]直流测量工装及方法

说明书

本发明提供了一种直流测量工装及方法，所述直流测量工装包括：计量芯片、第一采样通道、第二采样通道和主控芯片；所述第一采样通道与所述计量芯片的第一信号输入端连接，用于将采集到的预设低电压范围的低压采样信号输送给所述计量芯片；所述第二采样通道与所述计量芯片的第二信号输入端连接，用于将采集到的预设高电压范围的高压采样信号输送给所述计量芯片；所述计量芯片根据接收到的所述低压采样信号或者所述高压采样信号向所述主控芯片输出测量数据；所述主控芯片用于利用预设的校准系数对所述测量数据进行校准，得到测量结果。达到了提高直流源信号测量的准确性的技术效果。

技术领域

本发明涉及直流测量技术领域，尤其是涉及一种直流测量工装及方法。

背景技术

目前，进行直流电的采样测量时，一般将万用表的红表笔应接在和电源正极，黑表笔接在和电源负极，然后由测量人员目测测量参数，并记录测量数据。

然而，采用万用表进行直流采样，和测量人员的操作稳定性和万用表本身质量有关，在测量人员操作不稳定或者万用表本身质量较差时，可能会导致测量数据波动较大，测量不准确。

发明内容

有鉴于此，本发明的目的在于提供一种直流测量工装及方法，以缓解现有技术中存在的在测量人员进行直流电测量时，可能会出现测量数据波动较大，测量不准确的技术问题。

第一方面，本发明实施例提供了一种直流测量工装，包括：计量芯片、第一采样通道、第二采样通道和主控芯片；

所述第一采样通道与所述计量芯片的第一信号输入端连接，用于将采集到的预设低电压范围的低压采样信号输送给所述计量芯片；

所述第二采样通道与所述计量芯片的第二信号输入端连接，用于将采集到的预设高电压范围的高压采样信号输送给所述计量芯片；

所述计量芯片根据接收到的所述低压采样信号或者所述高压采样信号向所述主控芯片输出测量数据；

所述主控芯片用于利用预设的校准系数对所述测量数据进行校准，得到测量结果。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第一种可能的实施方式，其中，所述第一采样通道具有第一正模拟量输出端子、第一负模拟量输出端子、差分输出端子以及第一采样接口；

所述第一采样接口用于连接外部待测量直流信号源；

所述第一正模拟量输出端子与所述计量芯片的第一正模拟量输入引脚连接；

所述第一负模拟量输出端子与所述计量芯片的第一负模拟量输入引脚连接；

所述差分输出端子与所述计量芯片的差分输入引脚连接。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第二种可能的实施方式，其中，所述第一采样通道包括：并联电阻、第一差分电阻、第二差分电阻、第一滤波电阻、第二滤波电阻、第一滤波电容和第二滤波电容；

所述第一差分电阻、所述第二差分电阻、第二滤波电阻、第二滤波电容、第一滤波电容和第一滤波电阻串联形成第一串联回路，所述第一差分电阻与所述第二差分电阻之间的节点与所述差分输出端子连接，所述并联电阻并联在所述第一差分电阻与所述第二差分电阻两端，所述并联电阻的两端与所述第一采样接口连接，所述第一滤波电容和所述第二滤波电容之间的节点与所述差分输出端子连接，所述第一滤波电阻和所述第一滤波电容之间的节点与所述第一正模拟量输出端子连接，所述第二滤波电阻和所述第二滤波电容之间的节点与所述第一负模拟量输出端子连接。

结合第一方面，本发明实施例提供了第一方面的第三种可能的实施方式，其中，所述第二采样通道具有第二采样接口、第二正模拟量输出端子和第二负模拟量输出端子；

所述第二采样接口用于连接外部待测量直流信号源；