[发明专利]芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统

说明书

本发明提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，方法包括获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；对获取的原始数据进行数据解析，以获得各个测试方法对应的测试结果；在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；根据模式选取指令，在模式选择区域选取至少一个测试方法；获取被选取的测试方法所对应的测试结果；在图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。本发明在芯片测试结果中使用图形用户界面将芯片测试的结果数据更加完整和直观展示在图形中，提高分析芯片测试结果数据的准确性。

技术领域

本发明涉及在半导体集成电路测试领域，尤其涉及一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统。

背景技术

成品的芯片和一整片晶圆上的芯片会存在各种各样的差异，为了让测试程序适用于这种差异，需要对一些比较敏感的测试项进行测试，找到适合该芯片的最佳设定。

芯片测试会产生原始数据，再根据生成的原始数据对芯片进行各类分析和决策。但是现有技术中芯片测试方法获取的原始数据可读性和可编辑性差，并且芯片测试结果图相对简单，通常现有的芯片测试结果图只能展示单个结果，且存在功能缺失和无法编辑的缺点，因此，在分析芯片测试结果图时会产生误差。

发明内容

本发明提供一种芯片测试结果的显示方法和设备以及测试系统，以至少解决现有技术中的以上技术问题中的一个或多个技术问题，或至少提供一种有益的选择。

本发明的第一个方面，本发明提供一种芯片测试结果的显示方法，包括：

获取利用多个测试方法对芯片进行测试得到的原始数据；

对获取的所述原始数据进行数据解析，以获得各个所述测试方法对应的测试结果；

在图形用户界面的模式选择区域显示各个待选择的测试方法；

根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法；

获取被选取的测试方法所对应的测试结果；以及

在所述图形用户界面(Graphical User Interface，简称GUI，又称图形用户接口，是指采用图形方式显示的计算机操作用户界面)的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果。

在一实施例中，还包括：

获取被选取的测试方法对应的参数；以及

在所述图形用户界面的参数显示区域显示获取的参数。

在一实施例中，根据模式选取指令，在所述模式选择区域选取至少一个测试方法，包括：

根据模式选取指令，在所述模式选择区域显示的多个测试方法对应的图标中选取至少一个测试方法对应的图标。

在一实施例中，所述在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：

在所述结果显示区域显示被选取的一个测试方法对应的单次测试结果图形，所述单次测试结果图形包括单次测试的成功标记与失败标记。

在一实施例中，所述在所述图形用户界面的结果显示区域显示被选取的测试方法对应的测试结果的步骤包括：

在所述结果显示区域显示被选取的多个测试方法对应的多次测试结果图形，所述多次测试结果图形包括多次测试的成功标记与失败标记的叠加效果。

在一实施例中，所述方法还包括：

通过应用程序编程接口(Application Programming Interface，简称API，是一些预先定义的函数)，得到具有设定格式的所述原始数据。