[发明专利]印刷显示面板喷墨打印像素缺陷检测与分类方法及其装置在审

专利信息
申请号: 201810727496.0 申请日: 2018-07-05
公开(公告)号: CN108986086A 公开(公告)日: 2018-12-11
发明(设计)人: 林志贤;纪艳玲;唐谦;林珊玲;郭太良 申请(专利权)人: 福州大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G06T7/10;G06T3/40
代理公司: 福州元创专利商标代理有限公司 35100 代理人: 蔡学俊
地址: 350108 福建省福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 原始图像 分类 预处理 像素缺陷检测 喷墨打印 显示面板 拼接 提示 图像 印刷 分块图像 后续工艺 机器学习 检测结果 面板图像 缺陷像素 人工检测 图像缺陷 主观因素 统计分析 分类器 细分类 分割 分块 像素
【说明书】:

发明涉及一种印刷显示面板喷墨打印像素缺陷检测与分类方法及其装置。该方法包括如下步骤:待测面板图像的分块获取;当接收到原始图像,对所述原始图像进行预处理;当接收到预处理的原始图像,对同一面板的所有分块图像进行拼接;当接受到拼接后的原始图像,对图像进行分割;当接收到分割后的原始图像,用机器学习中的分类器对图像进行分类,如果没有缺陷则进入后续工艺,如果有则给出提示;当接收到分类后提示有缺陷像素的原始图像,对所述图像缺陷像素进行定位及细分类,并对其类别及数量进行统计分析指明相应缺陷的解决方法。本发明旨在解决人工检测及分类存在的时间长、效率低、检测结果易受人的主观因素影响、一致性差的问题。

技术领域

本发明涉及印刷显示面板检测装置,确切地说,是一种印刷显示面板喷墨打印像素缺陷检测与分类方法及其装置。

背景技术

有机发光二极管(Organic-Emitting Diode,OLED)显示器、量子点发光二极管(Quantum Dot Light Emitting Diodes,QLED)显示器以及印刷电润湿(ElectrowettingDisplay,EWD)显示器等印刷显示面板由于其主动发光、低功耗、宽视角、低成本、易于实现柔性显示等优点受到显示界越来越多的关注,代表了未来显示技术的发展方向。但由于印刷显示面板工艺繁琐复杂,使得产品不可避免的出现各种缺陷,从而限制了印刷精度与工艺稳定性,最终导致了其极低的产品良率,限制了其工业量产的规模。因此对喷墨打印制程后面板的缺陷检测能够有效控制缺陷面板流入后续工序而导致的产品良率的降低和成本损失。

长期以来,OLED、QLED及印刷电润湿显示等印刷显示面板喷墨打印制程缺陷像素的检测都是采用人工的方式进行。但打印像素缺陷通常小于0.001,且其灰度与背景相近,对比度极低,人为检查并分类这样的缺陷意味着OLED、QLED及印刷电润湿显示等印刷显示面板的质量和测量标准都不能得到保证。

发明内容

本发明的目的在于提供一种印刷显示面板喷墨打印像素缺陷检测与分类方法及其装置,旨在解决人工检测及分类喷嘴喷射方向偏离、卫星墨滴、定位不准、墨滴偏大、成膜均匀性差这几类典型缺陷的时间长、效率低、检测结果易受人的主观因素影响、一致性差的问题。

为实现上述目的,本发明的技术方案是:一种印刷显示面板喷墨打印像素缺陷检测与分类方法,包括如下步骤:

步骤S1、将喷墨打印后的印刷显示面板放在检测平台上,分块获取待检测印刷显示面板的原始图像;

步骤S2、对步骤S1接收到的分块原始图像进行预处理;

步骤S3、对预处理后且同一印刷显示面板的所有分块原始图像进行拼接;

步骤S4、对拼接后的原始图像进行分割,获取检测目标;

步骤S5、对分割后的原始图像,采用机器学习中的分类器对图像进行二分类,若无缺陷像素则进行后续工艺,若有则执行步骤S6;

步骤S6、对分类后提示有缺陷像素的原始图像,进行缺陷像素的定位及细分类,并对其类别及数量进行统计分析指明相应缺陷的解决方法。

在本发明一实施例中,所述步骤S2中预处理方式为对分块原始图像进行灰度直方图均衡化来提高图像亮度,增强细节。

在本发明一实施例中,所述步骤S3中拼接方式包括图像特征点匹配、坐标变换和图像融合,所述图像特征点匹配是对预处理后的分块原始图像进行梯度特征提取及配对,所述坐标变换是根据两幅待拼接的分块原始图像的坐标系之间的关系,通过矩阵乘法将二者的坐标系统一成一个,所述图像融合是将不同来源的相同对象的图像数据进行空间上配准,然后通过算法将各个图像所有信息互补,有效结合,拼接为一幅图像,方便后续对整个印刷显示面板缺陷的分类及统计。

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