[发明专利]一种加载集总元件的反射超表面单元特性分析方法有效
申请号: | 201810735776.6 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN109522581B | 公开(公告)日: | 2023-04-18 |
发明(设计)人: | 李龙;刘光耀;韩家奇;乔畅 | 申请(专利权)人: | 西安电子科技大学 |
主分类号: | G06F30/367 | 分类号: | G06F30/367 |
代理公司: | 陕西电子工业专利中心 61205 | 代理人: | 陈宏社;王品华 |
地址: | 710071 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 加载 元件 反射 表面 单元 特性 分析 方法 | ||
1.一种加载集总元件的反射超表面单元特性分析方法,其特征在于,包括如下步骤:
(1)获取反射超表面单元模型端口的散射参数S′:
(1a)建立反射超表面单元模型:
建立具有n个加载集总元件位置的反射超表面单元模型,n≥1;
(1b)设置反射超表面单元模型的仿真条件:
设置反射超表面单元模型加载集总元件位置i的集总端口为Li,i=1,2,…,n,集总端口的阻抗为k,30Ω≤k≤70Ω,边界条件为周期边界条件,目标电磁响应端口为Floquet端口F,工作频段为集总元件的工作频段(fmin,fmax);
(1c)对反射超表面单元模型进行全波仿真,得到反射超表面单元模型集总端口Li和Floquet端口F的散射参数S′;
(2)获取集总元件二端口的散射参数S″q:
将集总端口的阻抗k作为集总元件测量端口的阻抗,并采用TRL测量方法对工作状态q下的集总元件进行测量,得到集总元件二端口的散射参数S″q,q=1,2,…,m;
(3)获取加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag1q和Phase1q:
(3a)利用软件MATLAB工具箱RF Toolbox的snp2smp函数,从散射参数S′抽取出集总端口Li的散射参数Si;
(3b)利用软件MATLAB工具箱RF Toolbox的cascadesparams函数,对集总端口Li的散射参数Si与散射参数S″q进行级联,得到反射超表面单元模型Floquet端口F的散射参数Saq;
(3c)计算加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag1q和Phase1q:
Mag1q=dB(Saq),
Phase1q=Arg(Saq);
(4)获取工作状态q下的集总元件等效电路C1q的元件参数集合Circuitq:
查取官方数据手册中工作状态q下的集总元件等效电路C0q所有元件的参数,组成C0q的元件参数集合Circuit0q,并将Circuit0q作为反射超表面单元上加载工作状态q下的集总元件等效电路C1q中所有元件参数组成的元件参数集合Circuitq=Circuit0q;
(5)获取加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag2q和Phase2q:
(5a)利用软件MATLAB工具箱RF Toolbox的setports函数,通过C1q的元件参数集合Circuitq,计算加载工作状态q下的集总元件的等效电路的散射参数S″′q;
(5b)利用软件MATLAB的工具箱RF Toolbox的cascadesparams函数,将散射参数Si与散射参数S″′q进行级联,得到反射超表面单元模型Floquet端口F的散射参数Sbq;
(5c)计算加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag2q和Phase2q:
Mag2q=dB(Sbq),
Phase2q=Arg(Sbq);
(6)判断Mag1q=Mag2q且Phase1q=Phase2q是否成立,若是,执行步骤(7),否则,调整元件参数集合Circuitq中元件的参数,并执行步骤(5);
(7)获取加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag3q和Phase3q:
设置反射超表面单元模型的边界为周期边界条件,同时根据元件参数集合Circuitq中的元件参数,设置反射超表面单元模型加载工作状态q下的集总元件位置i的集总边界为Miq,对反射超表面单元模型进行全波仿真,得到加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性Mag3q和Phase3q;
(8)判断Mag3q=Mag2q且Phase3q=Phase2q是否成立,若是,将Mag3q和Phase3q作为加载工作状态q下的集总元件的反射超表面单元的反射特性,否则,调整步骤(7)全波仿真中的剖分网格,并执行步骤(7)。
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