[发明专利]一种力分布测量装置及测量方法在审
申请号: | 201810736496.7 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN108645554A | 公开(公告)日: | 2018-10-12 |
发明(设计)人: | 王勇;黄长建;肖飞云;刘正士 | 申请(专利权)人: | 合肥工业大学 |
主分类号: | G01L5/00 | 分类号: | G01L5/00;G01L5/16;A61B5/103 |
代理公司: | 安徽省合肥新安专利代理有限责任公司 34101 | 代理人: | 何梅生 |
地址: | 230009 安*** | 国省代码: | 安徽;34 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 支撑梁 测量装置 力分布 应变片 足底 测量 三维坐标系 测力装置 检测信号 健康状态 矩形平板 圆形平板 测量力 法向力 力测量 底面 粘贴 支撑 应用 | ||
1.一种力分布测量装置,其特征是:所述测量装置(1)是由平板(2)和四个结构相同且两两在一个水平线上的支撑梁(3)构成,每个支撑梁(3)上设有两个弹性体,所述两个弹性体是分处在沿着支撑梁(3)的长度方向的不同位置上,令:处在支撑梁首端一侧的弹性体为首端弹性体,处在支撑梁末端一侧的弹性体为末端弹性体;
所述平板(2)为矩形平板,在所述测力装置(1)上建立的三维坐标系是以矩形平板的底面的中心点为坐标原点,沿矩形平板的长度方向为X向,沿矩形平板的宽度方向为Y向,沿矩形平板的厚度方向为Z向;
所述平板(2)或为圆形平板,在所述测力装置(1)上建立的三维坐标系是以圆形平板的底面的中心点为坐标原点,任一径向定义X向,另一径向且垂直于X向为Y向;沿平板(2)的厚度方向为Z向;
支撑梁(3)设置在平板(2)的底面用于对平板(2)形成Z向支撑;各支撑梁(3)的首端与平板(2)固定连接,支撑梁(3)的末端作为所述测量装置的支撑点。
2.根据权利要求1所述的力分布测量装置,其特征是:在所述支撑梁(3)上设置通孔(4),利用所述通孔(4)形成所述弹性体,所述通孔(4)为圆形孔,或为长圆形孔,或为腰形孔。
3.根据权利要求1所述的力分布测量装置,其特征是:针对所述平板(2)为矩形平板,四个支撑梁(3)均沿X向设置,且两两对称分布在平板(2)的两端,处在同一端的两个支撑梁(3)相互之间形成有Y向间隔,并以X轴为对称轴相互对称;使四个支撑梁(3)分处在平面坐标XOY的四个象限中,令:处在第一、第二、第三和第四各象限中的支撑梁依次为第四梁(3d)、第一梁(3a)、第二梁(3b)和第三梁(3c);以坐标原点为对称中心,形成如下各对称结构:
第一梁与第二梁中首端弹性体X向对称,第一梁与第二梁中末端弹性体X向对称,第三梁与第四梁中首端弹性体X向对称,第三梁与第四梁中末端弹性体X向对称;
第一梁与第四梁中首端弹性体Y向对称,第一梁与第四梁中末端弹性体Y向对称,第二梁与第三梁中首端弹性体Y向对称,第二梁与第三梁中末端弹性体Y向对称。
4.根据权利要求1所述的力分布测量装置,其特征是:针对所述平板(2)为矩形平板或为圆形平板,四个支撑梁(3)关于平板(2)的中心呈十字对称,第一梁和第二梁分布在X轴向上,第三梁和第四梁分布在Y轴向上;以坐标原点为对称中心,形成如下各对称结构:第一梁与第二梁中首端弹性体Y向对称,第一梁与第二梁中末端弹性体Y向对称,第三梁与第四梁中首端弹性体X向对称,第三梁与第四梁中末端弹性体X向对称。
5.一种权利要求3或4所述的力分布测量装置的测量方法,其特征是:在各支撑梁(3)的表面按如下位置粘贴应变片:
对应于第一梁(3a)上首端弹性体的中心位置,在第一梁(3a)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R11和R12;对应于第一梁(3a)上末端弹性体的中心位置,在第一梁(3a)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R13和R14;
对应于第二梁(3b)上首端弹性体的中心位置,在第二梁(3b)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R21和R22;对应于第二梁(3b)上末端弹性体的中心位置,在第二梁(3b)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R23和R24;
对应于第三梁(3c)上首端弹性体的中心位置,在第三梁(3c)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R31和R32;对应于第三梁(3c)上末端弹性体的中心位置,在第三梁(3c)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R33和R34;
对应于第四梁(3d)上首端弹性体的中心位置,在第四梁(3d)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R41和R42;对应于第四梁(3d)上末端弹性体的中心位置,在第四梁(3d)的上表面和下表面一一对应贴有应变片R43和R44;
各应变片均沿支撑梁的长度方向进行设置;所述测量装置的测量方法是:
以应变片R11和R12构成第一惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U11;
以应变片R13和R14构成第二惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U12;
以应变片R21和R22构成第三惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U21;
以应变片R23和R24构成第四惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U22;
以应变片R31和R32构成第五惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U31;
以应变片R33和R34构成第六惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U32;
以应变片R41和R42构成第六惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U41;
以应变片R43和R44构成第六惠斯通半桥信号检测电路,并输出检测信号U42;
建立所述检测信号与平板表面压力的数学模型为:C·F=M;
基于将平板上的作用力等效为一个或两个法向力,按如下方式一和方式二实现力的测量:
方式一:基于将平板上的作用力等效为一个法向力,按如下方式获得所述一个法向力的大小和位置:
系数矩阵C是通过标定获得的3×16的常数矩阵,F为等效力向量,M为检测信号向量,所述等效力向量F由式(1)所表征:
所述检测信号向量M是由在检测信号U11、U12、U21、U22、U31、U32、U41、U42中选取的三个不同的检测信号所构成,且每个支撑梁上最多选取一个检测信号;
所述检测信号向量M可以是:
式(1)中,Fz为平板上的等效法向作用力,(x,y)是平板上等效法向作用力Fz在平板XOY坐标系上的等效作用坐标点,利用数学模型C·F=M,根据各检测信号,获得等效于平板(2)上的一个法向力的大小和位置分别为:Fz和(x,y);
方式二:基于将平板上的作用力等效为两个法向力,按如下方式分别获得所述两个法向力的大小和位置:
系数矩阵C是通过标定获得的6×16的常数矩阵,F为等效力向量,M为检测信号向量,所述等效力向量F由式(2)所表征:
所述检测信号向量M是由在检测信号U11、U12、U21、U22、U31、U32、U41、U42中选取的六个不同的检测信号所构成,且每个支撑梁上最少选取一个检测信号;
所述检测信号向量M可以是:
式中:Fz1和Fz2为平板上两个不同的等效法向作用力,(x1,y1)、(x2,y2)一一对应为等效法向作用力Fz1和等效法向作用力Fz2在平板XOY坐标系上的等效作用坐标点。
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