[发明专利]抛光摩擦力的测量装置及其测量方法

权利要求书

1.抛光摩擦力的测量方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：

1)将各个应力测试部件(1)通过U形夹板(5)卡在工件孔(24)上，调节紧固螺钉(7)，确保每个应力测试部件(1)完全固定在工件盘(23)上，将待测元件放在工件孔(24)内；所述抛光摩擦力的测量方法的测量装置包括多个应力测试部件(1)，所述应力测试部件(1)包括U形夹板(5)，在所述U形夹板(5)上设置有应力传感器(10)，在所述应力传感器(10)上设置有信号传输线(11)和承载接触块(12)，所述信号传输线(11)与信号接收器(13)连接，所述信号接收器(13)将数据发送给电脑；所述信号接收器(13)设置有WIFI功能，可将应力传感器(10)测量的承载接触块(12)的负载力数据发送给电脑；

2)开启抛光盘(22)和工件盘(23)逆时针方向匀速旋转运动，然后开启信号接收器(13)和电脑；

3)当第1应力测试部件(1)对应的待测元件侧边旋转到抛光盘(22)的外侧并与工件盘(23)的偏距方向垂直时，开始记录各个应力测试部件(1)测量的负载压力数据，信号接收器(13)实时接收各个应力测试部件(1)测量的负载压力数据，并将数据发送给电脑，各个应力测试部件1测量m个取样点后停止记录数据；4)以工件盘(23)的偏距方向为X轴，工件盘(23)的中心为原点建立直角坐标系，各个应力测试部件(1)在同一时刻的取样点i所测作用力之和的径向分量、周向分量和综合值分别为：

其中：

θ_k为各个应力测试部件(1)在开始记录数据时的初始相位角；

k＝1、…、n，表示第1、…、n应力测试部件(1)；

i＝1、…、m，表示各个应力测试部件(1)分别测量的第1、…、m个取样点；

F_k(i)，表示各个应力测试部件(1)分别测量的第i＝1、…、m个取样点的数据；

是各个应力测试部件(1)在采样周期内旋转的角度，各个应力测试部件(1)的采样周期设为t(s)，工件盘(23)的转速设为ω(RPM)，分别测量的m个取样点对应的相位角为

2.如权利要求1所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：步骤1)所述将待测元件放在工件孔(24)内，这时所述应力测试部件(1)的承载接触块(12)与元件之间的距离控制在5mm范围内。

3.如权利要求1所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：所述应力测试部件(1)还包括紧固螺钉(7)、活动压板(9)和把持弹簧(8)，在所述U形夹板(5)的上端侧设置有贯穿螺孔(6)，在所述U形夹板(5)的上端侧的内侧与下端侧的内侧之间设置有活动压板(9)，且所述活动压板(9)通过多个把持弹簧(8)与U形夹板(5)的上端侧的内侧连接，所述紧固螺钉(7)穿过所述贯穿螺孔(6)与活动压板(9)接触，所述活动压板(9)与U形夹板(5)的下端侧的内侧的距离通过紧固螺钉(7)调节。

4.如权利要求1或3所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：所述承载接触块(12)具有光滑表面。

5.如权利要求1或3所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：所述信号接收器(13)具有内置电池。

6.如权利要求1或3所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：所述应力测试部件(1)的最大量程不小于被测光学元件的重力和加载压力之和，测量精度不小于最大量程的2％。

7.如权利要求1或3所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：对于圆形光学元件来说，设置3-12个应力测试部件(1)，并均布安装在圆形工件孔上。

8.如权利要求1或3所述的抛光摩擦力的测量方法，其特征在于：对于方形或矩形光学元件来说，设置4-12个应力测试部件(1)，工件孔的每条边上设置1-3个应力测试部件(1)。