[发明专利]一种支持约束的事件序列故障定位方法有效
申请号: | 201810739291.4 | 申请日: | 2018-07-06 |
公开(公告)号: | CN108959091B | 公开(公告)日: | 2021-06-25 |
发明(设计)人: | 魏长安;孙超;林连雷;姜守达;张雨 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 | 代理人: | 杨立超 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 支持 约束 事件 序列 故障 定位 方法 | ||
1.一种支持约束的事件序列故障定位方法,其特征在于,该方法的具体步骤为:
步骤一、对于一个具有n个事件的待测系统,初始化待测系统的正确事件序列测试用例组成的集合M1为空集、初始化待测系统的错误事件序列测试用例组成的M2为空集;
定义集合N1和集合N2分别为集合M1和集合M2所覆盖的全部t维相邻事件交互,定义N=N2-N1,初始化待测系统的集合N为空集,初始化待测系统的全部极小错误事件交互所组成的集合Γ为空集;设置最大迭代次数为m;
执行测试待测系统的全部事件序列测试用例,生成待测系统的非确定事件交互集N;
步骤二、计算步骤一的非确定事件交互集N中每个非确定事件交互的错误概率,选取出非确定事件交互集N中错误概率最大的事件交互S;
步骤三、对步骤二选取的事件交互S进行测试,生成一组附加测试用例;
步骤四、计算步骤三中每条附加测试用例的适应值,来判断是否存在最佳附加测试用例,若存在最佳附加测试用例,则利用最佳附加测试用例判断事件交互S是否为待测系统的一个极小错误交互;
若不存在最佳附加测试用例,则按照适应值由大到小的顺序依次执行每条附加测试用例,来判断事件交互S是否为待测系统的一个极小错误交互;
步骤五、选取步骤二中错误概率次大的非确定事件交互S1,重复执行步骤三至步骤四的过程,直至非确定事件交互集N中所有事件交互测试完成,确定出集合Γ中包含的全部极小错误事件交互,完成待测系统的事件序列故障定位。
2.根据权利要求1所述的一种支持约束的事件序列故障定位方法,其特征在于,待测系统的全部极小错误事件交互所组成的集合Γ为:
若存在某一事件交互S0,使得对于待测系统中任意事件序列测试用例T,要满足即要满足事件序列测试用例T覆盖S0,必满足T触发待测系统故障,则称S0为该待测系统的一个错误事件交互;若对于错误事件交互S0,其覆盖的任意事件交互均不是错误交互,则称S0为待测系统的一个极小错误事件交互;待测系统的全部极小错误事件交互所组成的集合记为集合Γ。
3.根据权利要求2所述的一种支持约束的事件序列故障定位方法,其特征在于,所述步骤一中生成非确定事件交互集N的具体过程为:
对于待测系统的任意一条事件序列测试用例,若该事件序列测试用例通过测试,则该事件序列测试用例为正确事件序列测试用例,并将其加入集合M1,同时将该事件序列测试用例覆盖的全部事件交互加入集合N1,若该事件序列测试用例未通过测试,则该事件序列测试用例为错误事件序列测试用例,并将其加入集合M2,同时将其覆盖的事件交互加入集合N2;那么,待测系统的全部事件序列测试用例对应的非确定事件交互组成的非确定事件交互集为N=N2-N1。
4.根据权利要求3所述的一种支持约束的事件序列故障定位方法,其特征在于,所述步骤二的具体过程为:
对于非确定事件交互集N中的t维事件交互S′,t维事件交互S′中的事件序列为s1、s2、…、st,t维事件交互S′的错误概率定义为:在待测系统的全部错误事件序列测试用例中,覆盖t维事件交互S′的事件序列测试用例占全部错误事件序列测试用例数目的比值;
设待测系统的全部错误事件序列测试用例的集合为M,且对于非确定事件交互集N中的任意t维事件交互S′,t维事件交互S′的错误概率q(K)为:
其中:T为集合M中覆盖t维事件交互S′的测试用例,|M|为测试用例集M中测试用例的个数;
计算出非确定事件交互集N中每个事件交互的错误概率,并选取出非确定事件交互集N中错误概率最大的事件交互S。
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